[发明专利]一种信号分析参数分析方法在审
申请号: | 202310045013.X | 申请日: | 2023-01-30 |
公开(公告)号: | CN116126187A | 公开(公告)日: | 2023-05-16 |
发明(设计)人: | 高青君;杜会文;周钦山;刘公政;曹利建 | 申请(专利权)人: | 中电科思仪科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/0482 | 分类号: | G06F3/0482;G06F3/04842;G06F3/0488;G06F40/18 |
代理公司: | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 | 代理人: | 种艳丽 |
地址: | 266555 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 信号 分析 参数 方法 | ||
1.一种信号分析参数分析方法,其特征在于,具体包括如下步骤:
S1,利用信号分析仪生成分析信号参数,打开信号分析参数报表;
S2,触屏选择所需分析参数;
S3,触屏选择参数列数或选择“当前数据保存”或选择“所有数据保存”;
S4,触屏选中单列参数或选中双列参数或选中三列及以上列数的参数;
S5,根据选中的列数以及实际需要显示相应的分析图。
2.根据权利要求1所述的一种信号分析参数分析方法,其特征在于,当触屏选中单列参数后,执行步骤S5.1,具体为:
S5.1,选中单列参数后在弹出的菜单中选择“折线图分析”,接着判断是否归一化数据,如果是则将数据进行归一化处理,如果不是则保持原始数据,最终显示折线图。
3.根据权利要求1所述的一种信号分析参数分析方法,其特征在于,当触屏选中双列参数后,执行步骤S5.2,具体为:
S5.2,选中双列参数后在弹出菜单下选择“折线图分析”或选择“散点图分析”或选择“条形图分析”;
S5.2.1,选择“折线图分析”后,选择归一化数据处理,显示两列参数的折线趋势分析图;
S5.2.2,选择“散点图分析”后,再选择哪一列为横轴,哪一列为纵轴,显示两列参数的散点图;
S5.2.3,选择“条形图分析”后,显示对应信号点的每个信号点的多种参数特性对比分析图。
4.根据权利要求1所述的一种信号分析参数分析方法,其特征在于,当触屏选中三列及以上列数的参数后,执行步骤S5.3,具体为:
S5.3,在弹出菜单中选择“折线图分析”或选择“条形图分析”;
S5.3.1,选择“折线图分析”后选择归一化数据,显示这几列信号分析参数的折线趋势图;
S5.3.2,选择“条形图分析”后显示对应信号点的每个信号点的多种参数特性对比分析图。
5.根据权利要求1所述的一种信号分析参数分析方法,其特征在于,生成信号分析参数的具体方法为:首先将被测信号经过衰减器、低通滤波后与本振混频后变频到中频,中频信号经过抗混叠滤波器和步进增益的处理,通过AD转换器将模拟中频信号转换成数字中频信号,再经过数字下变频滤波处理,将中频信号变成零中频的数字IQ复信号,并存储在大容量的捕获内存中,IQ数据经过幅相修正、选时、时频变换、调幅解调、调频解调和调相解调运算得到频谱、幅度、相位和频率的多个数据域计算结果。
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