[发明专利]一种信号分析参数分析方法

说明书

本发明提供了一种信号分析参数分析方法，具体包括如下步骤：S1，利用信号分析仪生成分析信号参数，打开信号分析参数报表；S2，触屏选择所需分析参数；S3，触屏选择参数列数或选择“当前数据保存”或选择“所有数据保存”；S4，触屏选中单列参数或选中双列参数或选中三列及以上列数的参数；S5，根据选中的列数以及实际需要显示相应的分析图。本发明的技术方案克服现有技术中对信号分析参数进行分析时，操作难度高、无法实时对参数结果进行分析的问题。

技术领域

本发明涉及信号分析技术领域，具体涉及一种信号分析参数分析方法。

背景技术

信号分析仪作为电子测量通信领域的重要测试仪表，目前已从基本的频谱测试发展为集频谱功率测试、复杂信号分析等功能于一体的多功能仪表。其中多种信号分析参数的分析方法对仪表复杂信号测量功能显得尤为重要。

传统信号分析参数分析技术目前以报表数据形式为主，如具体实施方式中的表1所示。只能通过程序代码提取到需要的信号分析参数列表内容，再进行参数分析处理。目前传统参数分析方法无法快捷、方便、高效地对参数结果进行分析，也无法通过手动操作仪表，直接对参数进行形象化的图形分析展示。

传统的信号分析参数分析方法，存在以下缺点：对操作人员的能力有较高要求，需要具备基本的编程能力及熟悉信号分析类仪器的远程控制指令；信号分析参数以报表形式显示，无法进行参数分析可视化的展示，无法实时对参数结果进行分析，效率低；无法直接将需要的参数信息进行本地保存及获取。

因此，现需要一种操作难度低并且能够实时对参数结果进行分析的信号分析参数分析方法。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种信号分析参数分析方法，以解决现有技术中对信号分析参数进行分析时，操作难度高、无法实时对参数结果进行分析的问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种信号分析参数分析方法，具体包括如下步骤：

S1，利用信号分析仪生成分析信号参数，打开信号分析参数报表；

S2，触屏选择所需分析参数；

S3，触屏选择参数列数或选择“当前数据保存”或选择“所有数据保存”；

S4，触屏选中单列参数或选中双列参数或选中三列及以上列数的参数；

S5，根据选中的列数以及实际需要显示相应的分析图。

进一步地，当触屏选中单列参数后，执行步骤S5.1，具体为：

S5.1，选中单列参数后在弹出的菜单中选择“折线图分析”，接着判断是否归一化数据，如果是则将数据进行归一化处理，如果不是则保持原始数据，最终显示折线图。

进一步地，当触屏选中双列参数后，执行步骤S5.2，具体为：

S5.2，选中双列参数后在弹出菜单下选择“折线图分析”或选择“散点图分析”或选择“条形图分析”；

S5.2.1，选择“折线图分析”后，选择归一化数据处理，显示两列参数的折线趋势分析图；

S5.2.2，选择“散点图分析”后，再选择哪一列为横轴，哪一列为纵轴，显示两列参数的散点图；

S5.2.3，选择“条形图分析”后，显示对应信号点的每个信号点的多种参数特性对比分析图。

进一步地，当触屏选中三列及以上列数的参数后，执行步骤S5.3，具体为：

S5.3，在弹出菜单中选择“折线图分析”或选择“条形图分析”；

S5.3.1，选择“折线图分析”后选择归一化数据，显示这几列信号分析参数的折线趋势图；