[发明专利]芯片测试方法、装置及设备

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测芯片的芯片型号数据；

若根据所述芯片型号数据确定所述待测芯片属于目标型号的芯片，则针对所述待测芯片执行所述目标型号所对应的型号测试方案，输出所述待测芯片的测试结果；

其中，所述型号测试方案包括芯片经功能单元分析得到的并行测试方案；所述功能单元分析包括依据芯片中各功能单元所需的测试时间、以及各所述功能单元之间并行测试的干扰情况，确认出所述并行测试方案；

对芯片进行所述功能单元分析，得到所述并行测试方案的步骤，包括：

按照功能类别对芯片进行功能单元组成分析，确定出芯片中的各所述功能单元，并分别获取各所述功能单元所需的测试时间；

对各所述功能单元进行分组，确定出组合测试项；

对所述组合测试项中的各所述功能单元进行并行测试，获取所述组合测试项的干扰度，并将所述干扰度最小的所述组合测试项作为目标并行测试项纳入所述并行测试方案；所述干扰度用于表征同一所述组合测试项中各所述功能单元的测试结果之间的干扰情况；

基于各所述功能单元所需的测试时间，确认出所述并行测试方案中各所述目标并行测试项对应的测试时间，并将各所述目标并行测试项对应的测试时间之和确定为所述芯片测试时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若根据所述芯片型号数据确定所述待测芯片不属于所述目标型号的芯片，则对所述待测芯片进行所述功能单元分析，得到对应于所述待测芯片的所述型号测试方案；

针对所述待测芯片执行对应于所述待测芯片的所述型号测试方案，输出所述待测芯片的测试结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述待测芯片的所述芯片型号数据，与对应于所述待测芯片的所述型号测试方案进行匹配关联；

将所述待测芯片的所述芯片型号数据备份为型号备份数据，且将对应于所述待测芯片的所述型号测试方案备份为备份测试方案。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述针对所述待测芯片执行所述目标型号所对应的型号测试方案的步骤之前，包括：

将所述备份测试方案中与所述目标型号匹配关联的所述型号测试方案，确定为所述目标型号所对应的所述型号测试方案。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述芯片型号数据包括用于表征芯片型号类别的芯片型号信息；所述方法还包括：

对比所述芯片型号信息与所述型号备份数据；

在所述对比的结果为所述型号备份数据中包含所述芯片型号信息的情况下，确定所述待测芯片属于所述目标型号的芯片；

在所述对比的结果为所述型号备份数据中不包含所述芯片型号信息的情况下，确定所述待测芯片不属于所述目标型号的芯片。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述功能单元分析包括以降低各所述功能单元之间并行测试的干扰情况、且减少芯片测试时间为目标，确定所述并行测试方案。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述组合测试项为依据各所述功能单元所需的测试时间对各所述功能单元进行分组得到；

所述对所述组合测试项中的各所述功能单元进行并行测试，获取所述组合测试项的干扰度，并将所述干扰度最小的所述组合测试项作为目标并行测试项纳入所述并行测试方案的步骤，包括：

对当前的所述组合测试项中的各所述功能单元进行并行测试，分别得到各所述功能单元的所述测试结果；

在存在所述测试结果为非正常数据的情况下、剔除当前的所述组合测试项中的至少一个功能单元，或，在各所述测试结果均为正常数据的情况下、添加功能单元至所述当前的所述组合测试项，以得到用于进行下一轮并行测试的所述组合测试项；

其中，将各所述功能单元的所述测试结果均为正常数据的所述组合测试项，确认为所述目标并行测试项，直至所述并行测试方案无重复覆盖芯片的各所述功能单元。