[发明专利]芯片测试方法、装置及设备

说明书

本申请涉及一种芯片测试方法、装置及设备。所述方法包括：获取待测芯片的芯片型号数据；若根据芯片型号数据确定待测芯片属于目标型号的芯片，则针对待测芯片执行目标型号所对应的型号测试方案，输出待测芯片的测试结果；其中，型号测试方案包括芯片经功能单元分析得到的并行测试方案；功能单元分析包括依据芯片中各功能单元所需的测试时间、以及各功能单元之间并行测试的干扰情况，确认出并行测试方案。本申请根据各功能单元并行测试时的干扰情况，制定出测试结果最优的并行测试方案，能够保证总测试时间最短，且测试数据正确。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片测试方法、装置及设备。

背景技术

在芯片制造完成后，可以通过ATE（Automatic Test Equipment，自动化测试设备）检测芯片是否合格；芯片在制造过程中，不可避免存在缺陷，需要把通过测试和未通过测试的芯片分出来。芯片测试包括三种结果：合格的芯片通过测试，保留该芯片；不合格的芯片未通过测试，放弃该芯片；合格的芯片没有通过测试，重测或执行其他操作。然而，传统芯片测试方案存在测试时间过长的问题，会消耗大量的测试时间。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够有效地提升芯片测试效率的芯片测试方法、装置及设备。

第一方面，本申请提供了一种芯片测试方法，包括：

获取待测芯片的芯片型号数据；

若根据芯片型号数据确定待测芯片属于目标型号的芯片，则针对待测芯片执行目标型号所对应的型号测试方案，输出待测芯片的测试结果；

其中，型号测试方案包括芯片经功能单元分析得到的并行测试方案；功能单元分析包括依据芯片中各功能单元所需的测试时间、以及各功能单元之间并行测试的干扰情况，确认出并行测试方案。

在其中一个实施例中，方法还包括：

若根据芯片型号数据确定待测芯片不属于目标型号的芯片，则对待测芯片进行功能单元分析，得到对应于待测芯片的型号测试方案；

针对待测芯片执行对应于待测芯片的型号测试方案，输出待测芯片的测试结果。

在其中一个实施例中，方法还包括：

将待测芯片的芯片型号数据，与对应于待测芯片的型号测试方案进行匹配关联；

将待测芯片的芯片型号数据备份为型号备份数据，且将对应于待测芯片的型号测试方案备份为备份测试方案。

在其中一个实施例中，在针对待测芯片执行目标型号所对应的型号测试方案的步骤之前，包括：

将备份测试方案中与目标型号匹配关联的型号测试方案，确定为目标型号所对应的型号测试方案。

在其中一个实施例中，芯片型号数据包括用于表征芯片型号类别的芯片型号信息；方法还包括：

对比芯片型号信息与型号备份数据；

在对比的结果为型号备份数据中包含芯片型号信息的情况下，确定待测芯片属于目标型号的芯片；

在对比的结果为型号备份数据中不包含芯片型号信息的情况下，确定待测芯片不属于目标型号的芯片。

在其中一个实施例中，功能单元分析包括以降低各功能单元之间并行测试的干扰情况、且减少芯片测试时间为目标，确定并行测试方案。

在其中一个实施例中，对芯片进行功能单元分析，得到并行测试方案的步骤，包括：

按照功能类别对芯片进行功能单元组成分析，确定出芯片中的各功能单元，并分别获取各功能单元所需的测试时间；

对各功能单元进行分组，确定出组合测试项；