[发明专利]形状测量设备的控制方法和记录存储器在审
| 申请号： | 202310062101.0 | 申请日： | 2016-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN116086272A | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 野田孝;出口博美;菊池直也 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B5/008 | 分类号： | G01B5/008;G01B5/20 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张文慧 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 形状 测量 设备 控制 方法 记录 存储器 | ||
1.一种形状测量设备(200)的控制方法，所述形状测量设备包括前端具有触针头(232)的探测器(230)和用以移动所述探测器(230)的移动机构(220)，并且所述形状测量设备(200)通过检测所述触针头(232)与工件(W)的表面之间的接触来测量工件(W)的形状，所述控制方法包括以下步骤：
预先准备标称扫描测量所用的菜单；
使用户从预先准备的几何形状菜单中选择工件(W)的形状；
使用户从预先准备的测量路径菜单中选择测量路径；
使用户根据所选择的几何形状来输入用以指定该几何形状的参数；
使用户根据所选择的测量路径来输入用以指定该测量路径的参数；
基于所选择的几何形状、所输入的几何形状的参数、所选择的测量路径、以及所输入的测量路径的参数，使用预先准备的计算公式来计算工件(W)上的测量点和各测量点的法线方向；以及
计算在扫描测量点的序列的情况下进行移动所用的扫描测量的路径，并且以扫描所述扫描测量的路径的方式进行所述扫描测量，
所述控制方法的特征在于，
预先准备的标称扫描测量所用的菜单使用近似函数来代替CAD数据，以及
在无需工件(W)的设计数据的情况下进行所述扫描测量。
2.根据权利要求1所述的形状测量设备(200)的控制方法，其中，所述几何形状菜单至少包括球体、柱体、锥体和平面。
3.根据权利要求1所述的形状测量设备(200)的控制方法，其中，所述测量路径菜单至少包括螺旋和正弦曲线。
4.一种非易失性记录存储器，其包含使计算机执行根据权利要求1所述的形状测量设备(200)的控制方法的形状测量设备(200)所用的控制程序。
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