[发明专利]一种车规级芯片的测试方法、装置、设备及介质

说明书

本发明公开了一种车规级芯片的测试方法、装置、设备及介质，涉及芯片测试领域。该方法包括：获取待测试的车规级芯片；在至少一个仿真场景下对车规级芯片进行至少一种类型的通用功能测试，得到至少一种通用功能测试结果；在至少一种实际行车状态下获取车规级芯片的运行状态监控数据；根据各所述通用功能测试结果以及各所述运行状态监控数据，汇总得到与所述车规级芯片匹配的测试结果。通过本发明的技术方案，能够得到对车规级芯片在通用功能方面的功能测试结果以及运行状态监控数据，汇总可得到与车规级芯片匹配的测试结果，实现了对车规级芯片的测试，有助于更简便与全面的筛选符合整车适配的车规级芯片。

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种车规级芯片的测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

车规级芯片指技术标准达到车规级，可应用于汽车控制的芯片。车规级是适用于汽车电子元件的规格标准等级之一。车规级芯片是应用到汽车中的芯片，不同于消费品和工业品，该类芯片对可靠性的要求要高一些，例如工作温度范围、工作稳定性、不良率等。产品等级差异主要是通过复杂的芯片设计和生产流程控制来实现，从而在工作温度范围，稳定性等方面表现出差异化。

现有技术中的车辆控制器设计选用车规级芯片时，需要根据控制器设计需求与芯片手册进行选型。

发明人实现本发明的过程中，发现现有技术存在如下缺陷：随着国产车规级芯片进入市场，在控制器开发测试过程中，需要对车规级芯片进行测试，以确定该芯片的通用性能等是否可以充分地适配于控制器的开发测试。

发明内容

本发明提供了一种车规级芯片的测试方法、装置、设备及介质，可以实现对车规级芯片的量化性能评价。

第一方面，本发明实施例提供了一种车规级芯片的测试方法，包括：

获取待测试的车规级芯片；

在至少一个仿真场景下对车规级芯片进行至少一种类型的通用功能测试，得到至少一种通用功能测试结果；

在至少一种实际行车状态下获取车规级芯片的运行监控状态数据；

根据各所述通用功能测试结果以及各所述运行状态监控数据，汇总得到与所述车规级芯片匹配的测试结果。

第二方面，本发明实施例提供了一种车规级芯片的测试装置，包括：

待测试芯片获取模块，用于获取待测试的车规级芯片；

通用功能测试模块，用于在至少一个仿真场景下对车规级芯片进行至少一种类型的通用功能测试，得到至少一种通用功能测试结果；

运行状态获取模块，用于在至少一种实际行车状态下获取车规级芯片的运行状态监控数据；

测试结果汇总模块，用于根据各所述通用功能测试结果以及各所述运行状态监控数据，汇总得到与所述车规级芯片匹配的测试结果。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的车规级芯片的测试方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的车规级芯片的测试方法。