[发明专利]使能检测电路及电子设备

说明书

本发明提供了一种使能检测电路及电子设备，涉及信号检测的技术领域，本发明提供的使能检测电路及电子设备，在使能检测电路中包括依次连接的偏置电流发生电路、参考信号发生电路和比较电路；偏置电流发生电路用于获取待机电压产生偏置电流；参考信号发生电路用于获取偏置电流产生参考信号；比较电路包括第一阶段电路和第二阶段电路；第一阶段电路用于根据参考信号和使能信号向第二阶段电路输出比较信号，第二阶段电路用于根据比较信号输出逻辑电平信号，以控制外部设备是否退出待机模式，由于参考信号是基于偏置电流产生的，因此，可以为比较电路提供可调的参考电压，进而提高了使能检测电路的灵活性，并有助于提高检测效率。

技术领域

本发明涉及信号检测的技术领域，尤其是涉及一种使能检测电路及电子设备。

背景技术

通常情况下，对于使用开关电源的设备，一般都会用到低偏置电流的使能检测过程，这种检测过程通常发生待机模式条件下，例如，通过MOS管、双极管等，在待机模式条件下对低偏置电流进行检测。

而在检测低偏置电流时，通常会借助于晶体管的阈值电压来进行检测，但是，晶体管一般都有最小启动电压，即，晶体管的阈值电压VTH，使得低偏置电流的检测也会有一个最小检测阈值电压，即低于晶体管最小启动电压的检测阈值电压是检测不到的。因此，相关技术中，多采用具有较低阈值电压的晶体管来执行检测。然而，为了使用较低阈值电压的晶体管，就需要额外设计相应的检测设备，并且，这些检测设备并不是标准设备类型，不仅增加了制造成本，也增加了低偏置电流的检测成本，也限制了检测效率。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种使能检测电路及电子设备，以缓解上述技术问题，并提高检测效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种使能检测电路，所述使能检测电路包括依次连接的偏置电流发生电路、参考信号发生电路和比较电路；其中，所述偏置电流发生电路包括待机电压输入接口，所述待机电压输入接口用于获取待机电压，根据所述待机电压产生偏置电流；所述参考信号发生电路用于获取所述偏置电流，基于所述偏置电流产生参考信号，并将所述参考信号传递至所述比较电路；所述比较电路包括第一输入端和第二输入端，所述第一输入端用于获取所述参考信号，所述第二输入端用于获取使能信号；所述比较电路包括第一阶段电路和与所述第一阶段电路连接的第二阶段电路；所述第一阶段电路用于根据所述参考信号和所述使能信号向所述第二阶段电路输出比较信号，所述第二阶段电路用于根据所述比较信号输出所述比较信号对应的逻辑电平信号，以控制外部设备是否退出待机模式。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，上述偏置电流发生电路包括与所述待机电压输入接口连接的电流产生单元和与所述电流产生单元连接的电流传输单元；所述电流传输单元与所述参考信号发生电路连接；其中，所述电流产生单元用于基于所述待机电压产生偏置电流；所述电流传输单元用于将所述偏置电流传输至所述参考信号发生电路。

结合第一方面的第一种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，上述电流产生单元包括与待机电压输入接口连接的第一电阻，以及与所述第一电阻连接的电流产生电路；其中，所述电流产生电路包括三极管和第二电阻，其中，所述三极管的集电极与所述第一电阻连接，所述三极管的发射极接地，所述三极管的基极与所述第二电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端接地。

结合第一方面的第二种可能的实施方式，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，上述流传输单元包括依次连接的第一MOS管和第二MOS管，其中，所述第一MOS管的栅极与所述三极管的集电极连接，所述第一MOS管的源极与所述第二电阻的一端连接，所述第一MOS管的漏极与所述第二MOS管的漏极连接；所述第二MOS管的栅极与源极连接，所述第二MOS管的源极与所述待机电压输入接口连接。