[发明专利]目标检测方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种目标检测方法，包括：

获得从目标对象所在的位置针对所述目标对象所在的目标空间拍摄的多个图像，所述多个图像对应于多个视角，所述目标空间包括多个位置；

通过前向映射将所述多个图像中的每一个图像的图像特征映射到所述多个位置中的对应位置，以获得所述多个位置中的每一个位置的第一空间特征；

通过后向投影将所述多个位置中的每一个位置投影到所述多个图像中的相应图像上并提取该相应图像中的相应特征，以获得该位置的第二空间特征；以及

基于所述多个位置中的每一个位置的第一空间特征和第二空间特征，获得所述目标空间的目标检测结果，所述目标检测结果指示位于所述目标空间中的目标实例；

其中，所述通过前向映射将所述多个图像中的每一个图像的图像特征映射到所述多个位置中的对应位置，以获得所述多个位置中的每一个位置的第一空间特征包括：

针对所述多个图像中的每一个图像，

获得该图像的图像特征，

获得该图像上的每一个像素沿该图像所对应的视角方向上的多个深度中的每一个深度的分布概率，以及

基于该图像上的每一个像素沿所述多个深度中的每一个深度的分布概率和该图像的图像特征，获得所述多个位置中的每一个位置对应于该图像的第一空间子特征；以及

针对所述多个位置中的每一个位置，基于该位置对应于所述多个图像的多个第一空间子特征，获得该位置的第一空间特征。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述通过后向投影将所述多个位置中的每一个位置投影到所述多个图像中的相应图像上并提取该相应图像中的相应特征，以获得该位置的第二空间特征包括：

获得所述多个图像中的每一个图像的相机位姿；

针对所述多个位置中的每一个位置，

基于所述多个图像中的每一个图像的相机位姿对该位置进行投影，

响应于确定该图像中具有与该位置相应的投影位置，确定该图像为该位置的相应图像，并且

提取该相应图像中与该投影位置相应的特征，以作为该位置对应于该图像的第二空间子特征；以及

针对所述多个位置中的每一个位置，响应于获得该位置对应于所述多个图像中的一个或多个相应图像的一个或多个第二空间子特征，基于该一个或多个空间子特征，获得该位置的第二空间特征。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，针对所述多个位置中的每一个位置，该位置的第二空间特征为该位置所对应的一个或多个第二空间子特征的均值。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述多个位置中的每一个位置的第一空间特征和第二空间特征，获得所述目标空间的目标检测结果包括：

基于所述多个位置中的每一个位置的第一空间特征，获得第一鸟瞰图特征，所述第一鸟瞰图特征包括所述多个位置中的多个第一位置中的每一个第一位置的第一特征，所述多个第一位置位于所述目标对象所在的水平面上，该第一特征是基于所述多个位置中的多个第二位置的多个第一空间特征获得的，所述多个第二位置位于该第一位置所在的竖直方向上；

基于所述多个位置中的每一个位置的第二空间特征，获得第二鸟瞰图特征，所述第二鸟瞰图特征包括所述多个第一位置中的每一个第一位置的第二特征，所述第二特征是基于所述多个第二位置的多个第二空间特征获得的；以及

基于所述第一鸟瞰图特征和所述第二鸟瞰图特征，获得所述目标检测结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述多个第一位置中的每一个第一位置的第一特征包括所述多个第二位置的多个第一空间特征的均值；或者

多个第一位置中的每一个第一位置的第二特征包括所述多个第二位置的多个第二空间特征的均值。