[发明专利]球面激光棒的等效平行检测方法、装置和电子设备在审

专利信息
申请号: 202310086460.X 申请日: 2023-01-28
公开(公告)号: CN116026259A 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 陈丽英;徐秋萍 申请(专利权)人: 成都东骏激光股份有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01B11/24;G01B11/08;G01B9/02
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 曹延鹏
地址: 611600 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 球面 激光 等效 平行 检测 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种球面激光棒的等效平行检测方法,其特征在于,应用于球面激光棒的等效平行检测系统,所述等效平行检测系统包括:激光器、光栅、测试位和接收器;所述方法包括:

通过标准的球面激光棒校准所述等效平行检测系统;

将待测的球面激光棒放置于校准后的所述等效平行检测系统的测试位,确定所述待测的球面激光棒的偏移量;

基于所述偏移量确定所述待测的球面激光棒的等效平行的偏移角度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试位包括:测试平台和V型槽,所述接收器包括:测试平台和带刻度的圆环。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过标准的球面激光棒校准所述等效平行检测系统的步骤,包括:

打开所述激光器,调整所述光栅的大小;

将所述标准的球面激光棒放置于所述测试位;

调节所述测试位的位置和所述接收器的位置;

旋转所述标准的球面激光棒,确定所述接收器的出射斑点无偏移,所述等效平行检测系统校准完毕。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,调整所述光栅的大小的步骤,包括:调整所述光栅的大小以使入射光斑小于所述标准的球面激光棒的直径;

调节所述测试位的位置和所述接收器的位置的步骤,包括:调节所述测试位的位置以使入射光全部通过所述标准的球面激光棒;调节所述接收器的位置以使出射的激光斑点位于所述接收器的带刻度的圆环的中心。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将待测的球面激光棒放置于校准后的所述等效平行检测系统的测试位,确定所述待测的球面激光棒的偏移量的步骤,包括:

将待测的球面激光棒放置于校准后的所述等效平行检测系统的测试位,打开所述激光器;

旋转所述待测的球面激光棒一周,确定所述接收器的待测的球面激光棒的出射斑点的最大偏移尺寸为所述待测的球面激光棒的偏移量。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述偏移量确定所述待测的球面激光棒的等效平行的偏移角度的步骤,包括:

通过以下算式基于所述偏移量确定所述待测的球面激光棒的等效平行的偏移角度:θ=arcsin(d/nL);

其中,θ为所述待测的球面激光棒的等效平行的偏移角度,d为所述偏移量,n为所述待测的球面激光棒的材料的折射率,L为所述激光器的出光口至所述接收器的距离。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述偏移量确定所述待测的球面激光棒的等效平行的偏移角度的步骤之后,所述方法还包括:

如果所述偏移角度小于预设的角度阈值,确定所述待测的球面激光棒合格;

如果所述偏移角度大于或等于所述角度阈值,确定所述待测的球面激光棒不合格。

8.一种球面激光棒的等效平行检测装置,其特征在于,应用于球面激光棒的等效平行检测系统,所述等效平行检测系统包括:激光器、光栅、测试位和接收器;所述装置包括:

检测系统校准模块,用于通过标准的球面激光棒校准所述等效平行检测系统;

偏移量确定模块,用于将待测的球面激光棒放置于校准后的所述等效平行检测系统的测试位,确定所述待测的球面激光棒的偏移量;

偏移角度确定模块,用于基于所述偏移量确定所述待测的球面激光棒的等效平行的偏移角度。

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器存储有能够被所述处理器执行的计算机可执行指令,所述处理器执行所述计算机可执行指令以实现权利要求1至7任一项所述的球面激光棒的等效平行检测方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令在被处理器调用和执行时,计算机可执行指令促使处理器实现权利要求1至7任一项所述的球面激光棒的等效平行检测方法。

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