[发明专利]显微术中进行三维成像的方法、装置和显微镜

权利要求书

1.一种用于显微术中的三维成像的方法，其中，

借助于校正元件(2KE、3KE)在检测光路中校正来自样本(5)的检测辐射(DS)的像差；并且

以空间分辨的形式捕获校正的检测辐射(DS)；

其中，

确定所述校正元件(2KE、3KE)的最佳可能校正设置，其中，通过所述最佳可能校正设置，在所述最佳可能校正设置时出现的像差得以尽量减少；

基于所述最佳可能校正设置，确定缺陷校正设置，其中在所述缺陷校正设置下出现的像差导致所述检测辐射(DS)的不对称点扩散函数(PSFasymm)；

确定在所述缺陷校正设置下出现的所述不对称PSF(PSFasymm)；

引发确定的所述缺陷校正设置；

二维地捕获所述样本(5)的图像数据；以及

基于所述不对称PSF(PSFasymm)的不对称性的相应被捕获的显现，在各个情况下将所述检测光路的光轴(A2)的方向上的位置(Zc位置)至少分配给选定的图像数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，不对称PSF(PSFasymm)的形成是借助于作为光片(6)的照明辐射(BS)的适应性设计来实现的，其中沿着照明光路的光轴(A1)将所述照明辐射(BS)引导到样本空间中并且引导到布置在所述样本空间中的样本(5)上，并且

相对于所述检测光路的焦平面不对称地设置所述光片(6)的位置，

和/或

相对于所述照明光路的光轴(A1)的方向、正交地调制所述光片(6)的显现。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，通过将所述光片(6)和所述样本(5)移动到相对于彼此的不同定位中来扫描所述样本(5)的体积，并且根据相对定位、在各个情况下捕获至少一个图像，其中，根据所述相对定位，所述样本(5)被所述光片(6)照明的区域以所述光片(6)的厚度(D)的一部分彼此重叠。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，捕获所述样本(5)中的至少一个物体(9、9.1、9.2)在照明时段内的位置变化，其中，对体积的扫描以下述任一方式发生：

i)如果待捕获多个物体(9、9.1、9.2)的位置变化，则在每个定位处照明一次；或者

ii)如果捕获和定位的是单个物体(9、9.1、9.2)，则根据捕获的位置变化来控制并校正所述光片(6)的定位。

5.一种具有检测光路的用于显微术的装置，包括：

检测物镜(3)，用于捕获检测辐射(DS)；

空间分辨检测器(19)，用于所述检测辐射(DS)的图像点的二维捕获；以及

校正元件(2KE、3KE)，用于所述检测物镜(3)与所述检测器(19)之间的所述检测辐射(DS)的像差的校正；以及

控制装置(13)，用于所述校正元件(2KE、3KE)的致动和受控设置；

其中，

所述控制装置(13)被配置成基于所述校正元件(2KE、3KE)的最佳可能校正设置来引发缺陷校正设置，从而产生所述检测辐射(DS)的不对称点扩散函数(PSFasymm)，其中，通过所述最佳可能校正设置，在所述最佳可能校正设置时出现的像差得以尽量减少。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述校正元件(2KE、3KE)由成对的阿尔瓦雷斯板形成。

7.一种具有根据权利要求5或6所述的装置的显微镜(1)。

8.根据权利要求7所述的显微镜(1)，具有正置实施例。

9.根据权利要求7或8所述的显微镜(1)，包括具有照明物镜(2)的照明光学单元，所述照明光学单元用于借助于宽场照明光路上的照明辐射(BS)来照明位于样本平面(4)的样本区域中的样本载体(7)上的样本(5)。