[发明专利]一种存储芯片工作应力的模拟方法、设备及存储介质

权利要求书

1.一种存储芯片工作应力的模拟方法，通过测试平台系统实现，其特征在于：包括以下步骤：

S1：所述测试平台系统获取存储芯片的基础信息；

S2：根据需求对所述存储芯片进行分区，划分工作应力施加区域及无工作应力施加区域；

S3：所述测试平台系统从算法库中提取算法并分配到所述工作应力施加区域上；

S4：所述工作应力施加区域通过所述测试平台系统模拟控制所述存储芯片的参数配置；

S5：所述工作应力施加区域通过所述测试平台系统根据所述存储芯片的基础信息从驱动库中获取驱动配置；

S6：所述测试平台系统通过S5的驱动配置后对所述工作应力施加区域进行工作应力模拟。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片工作应力的模拟方法，其特征在于：所述S1包括：

所述存储芯片的基础信息通过可被所述测试平台系统读取及解析的文字或代码进行描述；

所述存储芯片的基础信息包括但不限于存储芯片名称、页大小、扇区大小、通信速率、通信协议及存储容量。

3.根据权利要求1所述的一种存储芯片工作应力的模拟方法，其特征在于：所述S2包括：

所述存储芯片划分的工作应力施加区域包括一个或多个。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片工作应力的模拟方法，其特征在于：所述S3包括：

所述测试平台系统根据所述存储芯片的工作负荷状态，分配一个或多个算法到所述工作应力施加区域上。

5.根据权利要求1所述的一种存储芯片工作应力的模拟方法，其特征在于：所述S3还包括：

所述算法库中包括各种对存储芯片的操作算法，包括但不限于正、反棋盘算法。

6.根据权利要求1所述的一种存储芯片工作应力的模拟方法，其特征在于：所述S4包括：

所述存储芯片的参数配置的模拟控制包括每个所述工作应力施加区域中的算法组合的循环次数、循环时间、区域执行顺序的设定。

7.根据权利要求1所述的一种存储芯片工作应力的模拟方法，其特征在于：所述S5包括：

所述工作应力施加区域通过所述测试平台系统根据所述存储芯片的名称从驱动库中查找对应的驱动程序。

8.一种存储芯片工作应力的模拟设备，其特征在于：包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的存储芯片工作应力的模拟方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的存储芯片工作应力的模拟方法的步骤。