[发明专利]一种紫外光电子能谱样品制备检测方法在审
申请号: | 202310178523.4 | 申请日: | 2023-02-28 |
公开(公告)号: | CN116482145A | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 杨文超;宋世杰;唐梦奇;湛永钟;何欢 | 申请(专利权)人: | 广西大学;南宁海关技术中心 |
主分类号: | G01N23/2202 | 分类号: | G01N23/2202;G01N23/2273 |
代理公司: | 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 | 代理人: | 高小艳 |
地址: | 530004 广西壮族*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 紫外 光电子 样品 制备 检测 方法 | ||
1.一种紫外光电子能谱样品制备检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:首先布置一个真空腔室,然后在真空腔室的底部放置加热装置,加热装置上放置加热容器,然后在真空腔室的顶部安装一个衬底;
S2:在真空腔室的加热容器内加入待检测材料,然后将真空腔室内抽真空;
S3:最后启动加热装置,使得加热容器内承装的检测材料受热蒸发,并漂浮至衬底朝下的一面冷凝;
S4:在蒸发完全后,关闭加热装置,打开真空腔室,并取出衬底,将衬底冷凝后,对含有蒸发材料的一面进行紫外光电子能谱检测。
2.根据权利要求1所述的一种紫外光电子能谱样品制备检测方法,其特征在于,所述S1中的加热装置选用电加热装置,以避免对氧气的需求,同时加热容器选用高导热材料,以便于高速加热。
3.根据权利要求1所述的一种紫外光电子能谱样品制备检测方法,其特征在于,所述S1中的衬底选用硅片。
4.根据权利要求1所述的一种紫外光电子能谱样品制备检测方法,其特征在于,所述S1中的待检测材料为可受热蒸发的各种金属、非金属材料。
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