[发明专利]内径测量方法、装置及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202310183450.8 申请日: 2023-03-01
公开(公告)号: CN115876108B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 王敏雪;李琦;袁帅鹏;张昂;王斯洋;刘杨;刘洋;陈立名;胡江洪;曹彬;常小刚 申请(专利权)人: 菲特(天津)检测技术有限公司
主分类号: G01B11/12 分类号: G01B11/12;G06T7/00;G06T7/70
代理公司: 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463 代理人: 赵兴
地址: 300450 天津市滨海新区自贸试验区(空港经济*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 内径 测量方法 装置 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种内径测量方法,其特征在于,包括:

获取由图像采集模块采集的待测件内壁上的光斑图像;

确定所述光斑图像在像素坐标系中的像素坐标参数;

将所述像素坐标参数转换成世界坐标系中的世界坐标参数;以及

根据所述世界坐标参数计算所述光斑图像的直径,并将所述光斑图像的直径作为所述待测件的内径。

2.根据权利要求1所述的内径测量方法,其特征在于,所述光斑图像由发光组件向待测件内壁投射结构光而产生;其中,所述发光组件包括与所述待测件内壁非同轴设置的激光发射器和棱镜,所述棱镜包括顶角为90度的锥透镜。

3.根据权利要求1所述的内径测量方法,其特征在于,所述确定所述光斑图像在像素坐标系中的像素坐标参数,包括:

利用平滑滤波算法对所述光斑图像进行平滑处理,得到平滑光斑图像;

利用条纹中心提取算法提取所述平滑光斑图像的条纹中心线,以所述条纹中心线的像素坐标作为所述像素坐标参数;其中,所述条纹中心线的像素宽度为1。

4.根据权利要求3所述的内径测量方法,其特征在于,所述利用平滑滤波算法对所述光斑图像进行平滑处理,得到平滑光斑图像,包括:

利用高斯滤波函数以及所确定的卷积核大小生成所述卷积核所对应的权重值;其中,所述卷积核大小根据所述光斑图像的条纹宽度所确定;

利用所述卷积核对所述光斑图像进行卷积操作,得到所述平滑光斑图像。

5.根据权利要求3所述的内径测量方法,其特征在于,所述利用条纹中心提取算法提取所述平滑光斑图像的条纹中心线,包括:

利用Steger 算法提取所述平滑光斑图像的条纹中心线。

6.根据权利要求1所述的内径测量方法,其特征在于,所述将所述像素坐标参数转换成世界坐标系中的世界坐标参数,包括:

将所述像素坐标参数转换成图像坐标系中的图像坐标参数;

将所述图像坐标参数转换成所述图像采集模块所对应的坐标系中的图像采集坐标参数;以及

根据图像采集坐标参数与世界坐标参数的对应关系,将所述图像采集坐标参数转换成所述世界坐标参数;

其中,所述像素坐标参数与世界坐标参数的对应关系的表达式为:

其中,xwywzw分别为所述世界坐标参数中的Xw轴、Yw轴、Zw轴的坐标值,M为投影矩阵,R为3×3旋转矩阵,A为3×1平移矢量,xi、yi为图像坐标参数中的Xi轴、Yi轴的坐标值,zc为所述图像采集坐标参数中Zc轴的坐标值,f为所述图像采集模块的焦距,uv分别为所述像素坐标参数中的Xp轴、Yp轴的坐标值,dxi为图像坐标参数中Xi轴坐标值的微分,dyi为图像坐标参数中Yi轴坐标值的微分,u0v0分别为图像坐标的坐标原点在所述像素坐标参数中Xp轴、Yp轴的坐标值。

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