[发明专利]内径测量方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请涉及测量技术领域，具体涉及一种内径测量方法、装置及计算机可读存储介质。该方法包括：获取由图像采集模块采集的待测件内壁上的光斑图像；确定光斑图像在像素坐标系中的像素坐标参数；将像素坐标参数转换成世界坐标系中的世界坐标参数；以及根据世界坐标参数计算光斑图像的直径，并将光斑图像的直径作为待测件的内径。本申请提供的内径测量方法、装置及计算机可读存储介质通过图像采集模块获取待测件内壁上的光斑图像，并通过计算该光斑的图像的直径，便能够得出待测件内壁的直径，实现了不接触待测件的内壁便测量出了待测件的内径，避免了因为测量工具与待测件之间的接触所导致对待测件的损坏，并提高了测量精度。

技术领域

本申请涉及测量技术领域，具体而言，涉及一种内径测量方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

在工业生产中，对零件的几何量测量是产品质量管理的必要手段，是零件加工的一个重要环节，通过对零件的形状、尺寸和所处姿态进行测量和分析，可以判断被测零件是否合格，并针对不合格零件分析其缺陷产生的原因，并改进对应的生产工艺，最终做到提高生产力和生产效率。因此，有必要对零件内壁直径，也即是内径进行测量。

目前，常用的零件内径测量方式多为通过游标卡尺、千分尺、卡规、塞规等测量工具进行尺寸和形位误差的测量，或者使用专门定制的零件尺寸标准模板来进行对比测量。然而，现有技术中的内径测量方式会对被测零件造成伤害。

发明内容

本申请实施例的目的在于一种内径测量方法、装置及计算机可读存储介质，通过获取待测件内壁上的光斑图像并对其进行图像处理，得出待测件的内径，以解决现有技术中对待测件内径测量时造成的伤害。

第一方面，本申请实施例提供了一种内径测量方法，包括：获取由图像采集模块采集的待测件内壁上的光斑图像；确定所述光斑图像在像素坐标系中的像素坐标参数；将所述像素坐标参数转换成世界坐标系中的世界坐标参数；以及根据所述世界坐标参数计算所述光斑图像的直径，并将所述光斑图像的直径作为所述待测件的内径。

上述内径测量方法，通过图像采集模块获取待测件内壁上的光斑图像，并通过计算该光斑的图像的直径，便能够得出待测件内壁的直径。实现了不接触待测件的内壁便测量出了待测件的内径，避免了因为测量工具与待测件之间的接触所导致对待测件的损坏。并且，通过光学的方法进行测量，相较于人工操作传统的游标卡尺、千分尺、卡规、塞规等测量工具进行测量，其测量精度更高。

结合第一方面，可选地，其中，所述光斑图像由发光组件向待测件内壁投射结构光而产生。其中，所述发光组件包括与所述待测件内壁非同轴设置的激光发射器和棱镜，所述棱镜包括顶角为90度的锥透镜。

上述内径测量方法，通过采用与待测件内壁非同轴设置的激光发射器与棱镜构成的发光组件，便实现了向待测件内壁投射结构光，节省了测量时所需的零部件。此外，向待测件内壁上投射的结构光，相较于其他类型的光而言，由于结构光的较好的相干性、单一波长且能量集中，进而提高了测量的精度。

结合第一方面，可选地，其中，所述确定所述光斑图像在像素坐标系中的像素坐标参数，包括：利用平滑滤波算法对所述光斑图像进行平滑处理，得到平滑光斑图像；利用条纹中心提取算法提取所述平滑光斑图像的条纹中心线，以所述条纹中心线的像素坐标作为所述像素坐标参数；其中，所述条纹中心线的像素宽度为1。

上述内径测量方法，通过对光斑图形进行平滑处理并通过条纹中心提取算法提取光强分布峰值点构成的条纹中心线。由于条纹中心线的分布是由待测件内壁上的发光点所构成，因此，该条纹中心线的直径便能够精确表征待测件的内径。因此，进一步地提高了待测件内壁的测量精度。

结合第一方面，可选地，其中，所述利用平滑滤波算法对所述光斑图像进行平滑处理，得到平滑光斑图像，包括：利用高斯滤波函数以及所确定的卷积核大小生成所述卷积核所对应的权重值；其中，所述卷积核大小根据所述光斑图像的条纹宽度所确定；利用所述卷积核对所述光斑图像进行卷积操作，得到所述平滑光斑图像。