[发明专利]基于GaN器件DHTOL试验测试方法和装置

权利要求书

1.基于GaN器件DHTOL试验测试装置，包括控制端，其特征在于，还包括VDS采样模块、VD漏电流测试模块和IM恒流模块；控制端用于提供PWM波至测试GaN器件的G端；VDS采样模块用于采集测试GaN器件端的导通压降，VD漏电流测试模块用于测试测试GaN器件端的漏电流Idss；恒流模块用于测试测试GaN器件端的导通电阻。

2.基于GaN器件DHTOL试验测试装置，包括控制端，其特征在于，还包括VDS采样模块、VD漏电流测试模块、IM恒流模块、动态PWM波模块和VG控制模块；动态PWM波模块获取控制端的PWM波信号，通过VG控制模块对PWM波信号进行控制，并将控制后的信号至测试GaN器件的G端，VDS采样模块用于采集测试GaN器件端的导通压降；VD漏电流测试模块用于测试测试GaN器件端的漏电流Idss；恒流模块用于测试测试GaN器件端的导通电阻。

3.根据权利要求1或2所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置，还包括VD直流电源、继电器SW1和继电器SW2，VD直流电源用于提供直流电源进线测试，当继电器SW2接通VD直流电源及IM恒流模块则进行测试GaN器件的导通电阻测试，当继电器SW3接通VD直流电源及VD漏电流测试模块则进行测试GaN器件的导通电阻测试则进行测试GaN器件的漏电流测试。

4.根据权利要求1或2所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置，其特征在于，还包括限流模块，限流模块一端与测试GaN器件的D端连接，另一端与VD直流电源连接，用于对动态老化电流进行保护。

5.根据权利要求1或2所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置，其特征在于，IM恒流模块包括运放控制模块、压降调节模块和输出保护模块；运放控制模块用于接收输入的电流，并对输入的电流进行控制传送至压降调节模块，压降调节模块用于调节运放控制端输出的电流，并将输出的电流反馈至运放控制模块，通过运放控制模块输出电流至输出保护模块，输出保护模块用于对输出的电流进行保护。

6.根据权利要求1或2所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置，其特征在于，VD漏电流测试模块包括ADC模块和隔离模块；ADC模块用于漏电流的采样，并将采样的漏电流传送至隔离模块，隔离模块通过隔离采样的方式将采样的漏电流与控制端进行通讯。

7.根据权利要求6所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置，其特征在于，隔离模块包括光电耦合器和DC/DC隔离单元，通过光电耦合器与控制端进行通讯，DC/DC隔离单元用于对VD漏电流测试模块进行供电。

8.根据权利要求4所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置，其特征在于，限流模块为电感或电阻。

9.基于GaN器件DHTOL试验测试方法，其特征在于，通过权利要求1-8任一所述的基于GaN器件DHTOL试验测试装置实现的方法包括：

控制端发送测试命令至测试GaN器件，测试命令包括老化测试命令；

测试GaN器件的老化，提供动态PWM控制信号及VD电压信号至测试GaN器件进行测试GaN器件的老化；

测试GaN器件的漏电流测试，对于测试GaN器件老化测试后，通过漏电流测试模块进行测试GaN器件的漏电流测试；

测试GaN器件的导通电阻测试，对于测试GaN器件漏电流测试后，通过IM恒流模块进行测试GaN器件的导通电阻测试。