[发明专利]一种图像校正方法、装置、电子设备及其存储介质

权利要求书

1.一种图像校正方法，其特征在于，包括：

获取模板对象的扫描图像，所述模板对象中包括多个均匀分布的标记点；

提取所述扫描图像中所述标记点的观测位置信息；

基于所述扫描图像中的中心区域确定所述标记点的分布间距，并基于所述标记点的分布间距确定所述标记点的实际位置信息；

基于各所述标记点的实际位置信息和观测位置信息确定校正矩阵，所述校正矩阵用于对目标对象的扫描图像进行校正处理。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取所述扫描图像中所述标记点的观测位置信息，包括：

对所述扫描图像进行二值化处理，得到二值化图像；

确定所述二值化图像中的连通域，提取各个连通域的中心点位置信息作为标记点的观测位置信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在确定所述二值化图像中的连通域之前，还包括：

对所述二值化图像进行膨胀处理和腐蚀处理。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在对所述扫描图像进行二值化处理之前，所述方法还包括：

对所述扫描图像进行图像增强处理，所述图像增强处理包括图像锐化处理。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述扫描图像中的中心区域确定所述标记点的分布间距，包括：

基于所述扫描图像中的中心区域内，同一行/列的两个标记点的观测位置信息，以及所述两个标记点之间的间隔数量，确定相邻标记点之间的分布间距。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述标记点的分布间距确定所述标记点的实际位置信息，包括：

基于扫描图像的中心点坐标、所述分布间距和标记点与中心点之间的间隔数量，确定所述标记点的实际位置信息。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取集成电路板的扫描图像；

基于所述校正矩阵对所述集成电路板的扫描图像进行校正处理。

8.一种图像校正装置，其特征在于，包括：

扫描图像获取模块，用于获取模板对象的扫描图像，所述模板对象中包括多个均匀分布的标记点；

观测位置信息获取模块，用于提取所述扫描图像中所述标记点的观测位置信息；

实际位置信息确定模块，用于基于所述扫描图像中的中心区域确定所述标记点的分布间距，并基于所述标记点的分布间距确定所述标记点的实际位置信息；

校正矩阵确定模块，用于基于各所述标记点的实际位置信息和观测位置信息确定校正矩阵，所述校正矩阵用于对目标对象的扫描图像进行校正处理。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的图像校正方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的图像校正方法。