[发明专利]一种声学传感器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202310208439.2 申请日: 2023-02-27
公开(公告)号: CN116322269A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 吴健兴;李仲民;但强;黎家健 申请(专利权)人: 瑞声科技(新加坡)有限公司
主分类号: H10N30/30 分类号: H10N30/30;G01D5/48;H10N30/87;H10N30/07
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 代理人: 姚宝然
地址: 新加坡淡滨*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 声学 传感器 及其 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种声学传感器及其制备方法,基底单元,基底单元包括自下而上依次层叠的第一硅层、第一氧化层以及第二硅层,基底单元内形成有背腔;第二氧化层,压电单元,形成于第二氧化层上,压电单元包括自下而上依次层叠的第一电极层、压电层以及第二电极层,压电单元内形成有狭缝以及开口;金属垫,金属垫层叠于开口处的第一电极层上;附加膜层,包括第一部分以及第二部分,第一部分平铺于第二电极层上并覆盖于狭缝上,第二部分平铺于金属垫上。与现有技术相比,本发明的压电单元可以以最大位移运动和最低限制振动,从而有效提高SPL和结构可靠性,附加膜层的厚度均匀分布在压电单元的顶部表面,适应于较大面积的声学传感器。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,特别是一种声学传感器及其制备方法。

背景技术

典型的声学传感器利用液体或糊状聚合物使用自旋涂层法在压电单元上产生附加膜层,聚合物完全填充图案结构上的可访问空间,然而,自旋涂层材料在不同的表面地形上可能分布不均匀的风险很高,此外,完全填充的聚合物可能会限制振动位移和性能。

发明内容

本发明的目的是提供一种声学传感器及其制备方法,以解决现有技术中的技术问题。

第一方面,本发明提供了一种声学传感器,包括:

基底单元,所述基底单元包括自下而上依次层叠的第一硅层、第一氧化层以及第二硅层,所述基底单元内形成有背腔,所述背腔依次贯穿所述第一硅层以及所述第一氧化层,所述第二硅层经由所述背腔暴露;

第二氧化层,形成于所述基底单元上;

压电单元,形成于所述第二氧化层上,所述压电单元包括自下而上依次层叠的第一电极层、压电层以及第二电极层;

狭缝,所述狭缝开设于所述第二电极层的中部,所述狭缝依次贯穿所述第二电极层、所述压电层、所述第一电极层、所述第二氧化层以及所述第二硅层,所述狭缝与所述背腔相连通;

开口,所述开口开设于所述第二电极层的边缘,所述开口依次贯穿所述第二电极层以及所述压电层,所述第一电极层经由所述开口暴露;

金属垫,所述金属垫层叠于所述开口处的所述第一电极层上;

附加膜层,包括第一部分以及第二部分,所述第一部分平铺于所述第二电极层上并覆盖于所述狭缝上,所述第二部分平铺于所述金属垫上,所述第二部分上形成有贯穿所述第二部分的通槽,所述金属垫与所述通槽的位置相对应,所述金属垫经由所述通槽暴露。

如上所述的一种声学传感器,其中,优选的是,所述第一部分与所述第二部分具有高度差,所述第二部分位于所述第一部分的下方。

如上所述的一种声学传感器,其中,优选的是,所述第一部分以及所述第二部分的厚度相同,所述第一部分以及所述第二部分内各处的厚度均保持一致。

如上所述的一种声学传感器,其中,优选的是,所述金属垫的厚度小于所述压电层的厚度。

如上所述的一种声学传感器,其中,优选的是,所述第二部分的底面与所述第一电极层的顶面之间具有间隙,第二部分的底面所处平面与压电层相交。

如上所述的一种声学传感器,其中,优选的是,所述附加膜层为感光薄膜。

第二方面,本发明还提供了一种声学传感器的制备方法,所述方法包括:

提供基底单元,所述基底单元包括自下而上依次层叠的第一硅层、第一氧化层以及第二硅层;

于所述第二硅层的顶部自下而上依次形成第二氧化层、第一电极层、压电层以及第二电极层;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞声科技(新加坡)有限公司,未经瑞声科技(新加坡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202310208439.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top