[发明专利]一种芯片测试系统及芯片测试装置

说明书

本发明公开了一种芯片测试系统及芯片测试装置，包括芯片图像采集单元、芯片外观测试单元、中央测试数据处理系统、触发器、RF功率检查单元、芯片可靠性测试单元、转换速度性能指标测试模块、测试结果判断单元和测试学习终端，本发明的有益效果是：通过加入了芯片图像采集单元，实现了对需要测试的芯片进行图像采集建立处理，并根据芯片的图像外观与标准芯片的图像进行对比，从而快速的对芯片外观存在的问题进行检测处理，通过加入了芯片电流测试单元，实现了对芯片的直流电流大小进行芯片测试处理，从而对芯片的承载电流大小进行测试。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，具体为一种芯片测试系统及芯片测试装置。

背景技术

集成电路(integrated circuit)是电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，它是微型电子器件或部件，在电路中用字母“IC”表示，发明者为杰克·基尔比(基于锗(Ge)的集成电路)和罗伯特·诺伊思(基于硅(Si)的集成电路)。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路，是20世纪50年代后期到60年代发展起来的一种新型半导体器件，在现有的芯片制造生产中需要对芯片进行性能测试处理，但现有的芯片测试不便于对芯片出现的性能问题进行学习，对于芯片的测试方面不够全面，测试效率低下。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片测试系统及芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片测试系统，包括芯片图像采集单元、芯片外观测试单元、中央测试数据处理系统、触发器、RF功率检查单元、芯片可靠性测试单元、转换速度性能指标测试模块、测试结果判断单元和测试学习终端，所述芯片图像采集单元的输出端与芯片外观测试单元的输入端通讯连接，所述芯片外观测试单元的输出端与中央测试数据处理系统的输入端通讯连接，所述中央测试数据处理系统与触发器双向连接，所述中央测试数据处理系统的输出端与RF功率检查单元的输入端通讯连接，所述中央测试数据处理系统与芯片可靠性测试单元双向连接，所述中央测试数据处理系统的输出端与转换速度性能指标测试模块的输入端通讯连接，所述转换速度性能指标测试模块的输出端与测试结果判断单元的输入端通讯连接，所述测试结果判断单元的输出端与测试学习终端的输入端通讯连接；

所述芯片图像采集单元用于对测试芯片的图像信息进行采集储存处理；

所述芯片外观测试单元用于对测试芯片的外观进行对比重合检测处理；

所述中央测试数据处理系统用于对测试芯片的数据进行集中管理处理；

所述触发器用于对在测试产生数据信号时进行触发提示处理；

所述RF功率检查单元用于对RF功率信号进行检波处理；

所述芯片可靠性测试单元用于对芯片的工作环境进行调节并根据不同的工作环境进行工作测试操作；

所述转换速度性能指标测试模块用于对芯片数据转换的速度依据性能指标进行测试操作；

所述测试结果判断单元用于对各种芯片测试得到的测试结构对芯片的合格情况进行判断处理；

所述测试学习终端用于对芯片测试检查出的问题进行学习。

作为优选，所述触发器双向连接有缓冲器，所述缓冲器用于对芯片测试时得到的数据进行缓冲，同时对测试数据进行临时储存处理。