[发明专利]闪存检测方法、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种闪存检测方法，其特征在于，包括：

获取阈值电压分布分类模型，所述阈值电压分布分类模型包括基于闪存块中的各个页的读取出错数确定的有效阈值电压分布和无效阈值电压分布；

针对待测闪存块中的各个页进行读取以获取所述各个页的出错数；

基于所述出错数获取与所述待测闪存块相对应的块出错数，以将所述块出错数与预定阈值进行比较；

如果所述块出错数小于所述预定阈值，将所述待测闪存块的阈值电压分布输入所述阈值电压分布分类模型；以及

如果基于所述阈值电压分布分类模型确定所述阈值电压分布有效，确定所述待测闪存块的检测通过。

2.根据权利要求1所述的闪存检测方法，其特征在于，基于所述出错数获取与所述待测闪存块相对应的块出错数包括：

基于所述各个页的所述出错数，得到平均页出错数或最大页出错数；以及

将所述平均页出错数或所述最大页出错数作为所述块出错数。

3.根据权利要求1所述的闪存检测方法，其特征在于，还包括：

在目标闪存块被编程之后，基于所述目标闪存块的上次读取出错数或所述目标闪存块的上次编程距当前的时间间隔，确定所述目标闪存块是否达到检测条件；以及

如果所述目标闪存块达到所述检测条件，将所述目标闪存块作为所述待测闪存块。

4.根据权利要求1所述的闪存检测方法，其特征在于，还包括：

如果基于所述阈值电压分布分类模型确定所述阈值电压分布无效，确定所述待测闪存块的检测失败。

5.根据权利要求1所述的闪存检测方法，其特征在于，还包括：

如果所述块出错数大于或等于所述预定阈值，确定所述待测闪存块的检测失败。

6.根据权利要求1所述的闪存检测方法，其特征在于，还包括：

获取所述待测闪存块的所述阈值电压分布，包括：

根据所述待测闪存块的类型，获取起点电压、终点电压和读取步长；

由所述起点电压至所述终点电压，依次以所述读取步长为电压差，读取每一电压值下对应的数据量；以及

对相邻电压值之间数据量的差值进行拟合，得到所述阈值电压分布。

7.根据权利要求1所述的闪存检测方法，其特征在于，还包括：

训练得到所述阈值电压分布分类模型，包括：

获取预设数量的闪存块的阈值电压分布数据；以及

根据所述阈值电压分布数据对分类器进行训练，得到所述阈值电压分布分类模型。

8.根据权利要求7所述的闪存检测方法，其特征在于，获取预设数量的闪存块的阈值电压分布数据包括：

读取当前闪存块中每一页的出错数，得到当前所述闪存块对应的出错值；

判断当前所述闪存块对应的所述出错值是否小于出错阈值；

若是，则读取当前所述闪存块的阈值电压分布数据，并将所述阈值电压分布数据记录为有效；以及

若否，则将当前所述闪存块标记为坏块，并读取当前所述闪存块的阈值电压分布数据，将所述阈值电压分布数据记录为无效。

9.根据权利要求8所述的闪存检测方法，其特征在于，获取预设数量的闪存块的阈值电压分布数据还包括：

判断是否所有所述闪存块均完成读取操作；

若否，则对下一所述闪存块执行读取操作，直至所有所述闪存块均完成读取操作。

10.根据权利要求7所述的闪存检测方法，其特征在于，根据所述阈值电压分布数据对分类器进行训练，得到所述阈值电压分布分类模型包括：

根据有效的所述阈值电压分布数据得到有效阈值电压分布模型；以及

根据无效的所述阈值电压分布数据得到无效阈值电压分布模型。