[发明专利]X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备

权利要求书

1.一种X射线探测器质量检测方法，其特征在于，包括：

获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；

确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；

当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。

2.根据权利要求1所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，所述确定所述校正亮场图的目标参数的步骤，包括：

基于预设拆分方式，将所述校正亮场图拆分成多个大小相同的第一亮场图；

获取并根据任一第一亮场图中的每个像素点的灰度值，得到该第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，直至得到每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比；

判断任一第一亮场图的灰度值标准差是否小于第一阈值或该第一亮场图的灰度值信噪比是否大于第二阈值，得到判断结果，直至得到每个第一亮场图的判断结果；

将判断结果为是的第一亮场图确定为目标亮场图，并基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数。

3.根据权利要求2所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，所述目标参数为：目标模糊率或目标合格率；

当所述目标参数为所述目标模糊率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：

基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量之间的比值，确定所述目标模糊率；

当所述目标参数为所述目标合格率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：

基于预设公式、目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标合格率；其中，预设公式为：y为所述目标合格率，x₁为目标亮场图的数量，x₂为第一亮场图的数量。

4.根据权利要求3所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，还包括：

根据每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，构建所述校正亮场图对应的目标区域图；

当判定所述X射线探测器质量异常时，根据所述目标区域图中的所述目标亮场图的分布，确定所述X射线探测器的优化方案。

5.根据权利要求2所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，所述预设拆分方式为：将所述校正亮场图拆分成K个M×N个像素点组成的亮场图；其中，K、M和N均为正整数。

6.根据权利要求1-5任一项所述的X射线探测器质量检测方法，其特征在于，所述对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图的步骤，包括：

对所述原始亮场图进行偏置校正、增益校正和坏点校正，得到所述校正亮场图。

7.一种X射线探测器质量检测系统，其特征在于，包括：获取模块、处理模块和判断模块；

所述获取模块用于：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；

所述处理模块用于：确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；

所述判断模块用于：当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。