[发明专利]X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备

说明书

本发明公开了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备，所述方法包括：获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。本发明通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。

背景技术

随着数字化X射线摄影系统(Digital Radiography System，DR)中的X射线平板探测器迅速发展，X射线探测器已经广泛应用于工业探伤、牙科成像、乳腺摄影以及miniC形臂等领域。在X射线探测器的制造工艺流程中，灵敏区的均匀性和耦合良好程度是影响X射线探测器的图像质量的极为关键的工序。

在常规的生产制造流程中，通过测试调制解调函数(MTF)评估光扩散程度的强弱，从而确定闪烁体的空间分辨能力，MTF评估需要高精度的钨刃边体膜和专业的计算程序，拍摄比较繁琐和昂贵。MTF的另外一个缺点是这是对测量点周围局部区域的表征，如果想确定全图的每个位置的空间分辨能力强弱，需要在每个位置都放置体膜拍摄图像然后进行计算，更加繁琐和不方便。

因此，亟需提供一种同时满足快速、方便、操作简易、低成本的技术方案解决评价闪烁体的空间分辨能力在整个闪烁体面上的分布的技术问题。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种X射线探测器质量检测方法、系统、存储介质和电子设备。

本发明的X射线探测器质量检测方法的技术方案如下：

获取利用X射线探测器拍摄得到的原始亮场图，并对所述原始亮场图进行校正，得到校正亮场图；

确定所述校正亮场图的目标参数，当所述目标参数超出相应的阈值范围时，判定所述校正亮场图为异常图像，否则，判定所述校正亮场图为正常图像；

当所述校正亮场图为异常图像时，判定所述X射线探测器质量异常，否则，判定所述X射线探测器质量正常。

本发明的X射线探测器质量检测方法的有益效果如下：

本发明的方法通过检测X射线探测器拍摄的X射线图像质量的优劣，实现对X射线探测器的生产质量进行监控，以助于优化X射线探测器的研发并提高X射线探测器的制造良率。

在上述方案的基础上，本发明的X射线探测器质量检测方法还可以做如下改进。

进一步，所述确定所述校正亮场图的目标参数的步骤，包括：

基于预设拆分方式，将所述校正亮场图拆分成多个大小相同的第一亮场图；

获取并根据任一第一亮场图中的每个像素点的灰度值，得到该第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比，直至得到每个第一亮场图对应的灰度值标准差和灰度值信噪比；

判断任一第一亮场图的灰度值标准差是否小于第一阈值或该第一亮场图的灰度值信噪比是否大于第二阈值，得到判断结果，直至得到每个第一亮场图的判断结果；

将判断结果为是的第一亮场图确定为目标亮场图，并基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数。

进一步，所述目标参数为：目标模糊率或目标合格率；

当所述目标参数为所述目标模糊率时，所述基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量，确定所述目标参数的步骤，包括：

基于目标亮场图的数量和第一亮场图的数量之间的比值，确定所述目标模糊率；