[发明专利]热插拔测试装置及系统在审

专利信息
申请号: 202310272276.4 申请日: 2023-03-20
公开(公告)号: CN116302749A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 李平;陈江 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/273
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 热插拔 测试 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种热插拔测试装置,其特征在于,包括:

第一连接器,用于被测器件的插入;

第二连接器,用于插入至测试主机;

开关,所述第一连接器与所述第二连接器通过所述开关相连;

逻辑控制模块,与所述开关电连接,所述逻辑控制模块用于输出第一控制信号至所述开关,以控制所述开关的导通,所述逻辑控制模块还用于输出第二控制信号至所述开关,以控制所述开关的断开,所述第一控制信号包括通断信号和第一导通信号,所述第二控制信号包括通断信号和第一断开信号,所述通断信号包括持续时间随机的第二导通信号和第二断开信号。

2.根据权利要求1所述的热插拔测试装置,其特征在于,所述被测器件包括与所述第一连接器相配合的第三连接器,所述第三连接器包括长管脚和短管脚,所述第一连接器包括用于与所述长管脚相连的第一端子和用于与所述短管脚相连的第二端子,所述开关包括用于连接所述第一端子与所述第二连接器的第一开关和用于连接所述第二端子与所述第二连接器的第二开关;

所述逻辑控制模块用于输出所述第一控制信号至所述第一开关,并在预设延时后输出所述第一控制信号至所述第二开关,所述逻辑控制模块还用于输出所述第二控制信号至所述第二开关,并在所述预设延时后输出所述第二控制信号至所述第一开关。

3.根据权利要求1所述的热插拔测试装置,其特征在于,所述通断信号为矩形波信号,所述第二导通信号为第二高电平信号,所述第二断开信号为第二低电平信号,所述第二高电平信号的持续时间与所述第二低电平信号的持续时间均是随机的,所述矩形波信号的持续时间大于或等于1毫秒,且小于10毫秒。

4.根据权利要求3所述的热插拔测试装置,其特征在于,所述矩形波信号包括多个所述第二高电平信号和多个所述第二低电平信号,所述第二高电平信号或所述第二低电平信号的持续时间大于或等于20纳秒,且小于或等于100微秒;

所述逻辑控制模块用于通过随机函数生成所述矩形波信号中包括的每个所述第二高电平信号的持续时间和每个所述第二低电平信号的持续时间。

5.根据权利要求1所述的热插拔测试装置,其特征在于,还包括与所述逻辑控制模块电连接的测试间隔时间输入模块,所述逻辑控制模块用于从所述测试间隔时间输入模块获取测试间隔时间,所述逻辑控制模块用于输出第二控制信号至所述开关以控制所述开关的断开,并在所述测试间隔时间之后输出第一控制信号至所述开关以控制所述开关的导通。

6.根据权利要求1所述的热插拔测试装置,其特征在于,还包括与所述逻辑控制模块电连接的预设测试次数输入模块,所述逻辑控制模块用于从所述预设测试次数输入模块获取预设测试次数,所述逻辑控制模块用于对当前测试次数进行计数,所述逻辑控制模块还用于在所述当前测试次数达到所述预设测试次数时,结束热插拔测试。

7.根据权利要求2所述的热插拔测试装置,其特征在于,还包括与所述逻辑控制模块电连接的预设延时输入模块,所述逻辑控制模块用于从所述预设延时输入模块获取所述预设延时。

8.根据权利要求6所述的热插拔测试装置,其特征在于,还包括与所述逻辑控制模块电连接的显示模块,所述逻辑控制模块用于将所述当前测试次数发送至所述显示模块,所述显示模块用于显示所述当前测试次数。

9.根据权利要求1所述的热插拔测试装置,其特征在于,还包括与所述逻辑控制模块电连接的测试开关,所述测试开关被触发打开时用于向所述逻辑控制模块发送开始信号,所述逻辑控制模块用于接收开始信号,并输出第一控制信号至所述开关以控制所述开关的导通。

10.一种热插拔测试系统,其特征在于,包括权利要求1至9任一项所述的热插拔测试装置。

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