[发明专利]热插拔测试装置及系统

说明书

本发明实施例提供了一种热插拔测试装置及系统，热插拔测试装置包括：第一连接器，用于被测器件的插入；第二连接器，用于插入至测试主机；开关，第一连接器与第二连接器通过开关相连；逻辑控制模块，与开关电连接，逻辑控制模块用于输出第一控制信号至开关，以控制开关的导通，逻辑控制模块还用于输出第二控制信号至开关，以控制开关的断开，第一控制信号包括通断信号和第一导通信号，第二控制信号包括通断信号和第一断开信号，通断信号包括持续时间随机的第二导通信号和第二断开信号。本发明实施例提供的热插拔测试装置及系统，避免了人工延误导致的测试效率较低，提高了热插拔测试效率。

技术领域

本发明涉及热插拔测试技术领域，特别是涉及热插拔测试装置及系统。

背景技术

热插拔(HotSwap)，即带电插拔，指在不关闭服务器或计算机的电源的情况下，将板卡、硬盘等外插设备插入或拔出服务器或计算机。

现有技术中，为了验证板卡、硬盘等外插设备的热插拔功能，需进行热插拔测试。在热插拔测试时通常是通过人工插拔的方式进行测试的。然而，热插拔测试需反复进行，且热插拔测试次数多达上千次，人工插拔时操作繁琐且消耗的时间较长，另人工多次插拔时会存在延误，进而导致热插拔测试的效率较低。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种热插拔测试装置及系统，以解决现有技术中热插拔测试的效率较低的技术问题。具体技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供一种热插拔测试装置，包括：

第一连接器，用于被测器件的插入；

第二连接器，用于插入至测试主机；

开关，所述第一连接器与所述第二连接器通过所述开关相连；

逻辑控制模块，与所述开关电连接，所述逻辑控制模块用于输出第一控制信号至所述开关，以控制所述开关的导通，所述逻辑控制模块还用于输出第二控制信号至所述开关，以控制所述开关的断开，所述第一控制信号包括通断信号和第一导通信号，所述第二控制信号包括通断信号和第一断开信号，所述通断信号包括持续时间随机的第二导通信号和第二断开信号。

可选地，所述被测器件包括与所述第一连接器相配合的第三连接器，所述第三连接器包括长管脚和短管脚，所述第一连接器包括用于与所述长管脚相连的第一端子和用于与所述短管脚相连的第二端子，所述开关包括用于连接所述第一端子与所述第二连接器的第一开关和用于连接所述第二端子与所述第二连接器的第二开关；

所述逻辑控制模块用于输出所述第一控制信号至所述第一开关，并在预设延时后输出所述第一控制信号至所述第二开关，所述逻辑控制模块还用于输出所述第二控制信号至所述第二开关，并在所述预设延时后输出所述第二控制信号至所述第一开关。

可选地，所述通断信号为矩形波信号，所述第二导通信号为第二高电平信号，所述第二断开信号为第二低电平信号，所述第二高电平信号的持续时间与所述第二低电平信号的持续时间均是随机的，所述矩形波信号的持续时间大于或等于1毫秒，且小于10毫秒。

可选地，所述矩形波信号包括多个所述第二高电平信号和多个所述第二低电平信号，所述第二高电平信号或所述第二低电平信号的持续时间大于或等于20纳秒，且小于或等于100微秒；

所述逻辑控制模块用于通过随机函数生成所述矩形波信号中包括的每个所述第二高电平信号的持续时间和每个所述第二低电平信号的持续时间。

可选地，还包括与所述逻辑控制模块电连接的测试间隔时间输入模块，所述逻辑控制模块用于从所述测试间隔时间输入模块获取测试间隔时间，所述逻辑控制模块用于输出第二控制信号至所述开关以控制所述开关的断开，并在所述测试间隔时间之后输出第一控制信号至所述开关以控制所述开关的导通。