[发明专利]一种荧光免疫检测方法及光学系统

权利要求书

1.一种荧光免疫检测方法，其特征在于，包括：

获取待测样品形成的反射光，并且筛选出反射光中特定波长的荧光信号；

测量所述荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域的亮度平均值C0；

测量所述荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域和T线对应的第二荧光反射区域的亮度平均值T0；

测量所述荧光信号中C线和T线之间的第三荧光反射区域的亮度平均值R0；

计算（C0-R0）/（T0-R0）的比值，将所述比值与标准曲线进行对比，得到待测样品的浓度。

2.根据权利要求1所述的荧光免疫检测方法，其特征在于，

测量所述荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域的像素点的总数目n1和总亮度C2，得到亮度平均值C0;

测量所述荧光信号中C线第一荧光反射区域和T线对应的第二荧光反射区域的像素点的总数目n2和总亮度T2，得到亮度平均值T0；

测量所述荧光信号中C线和T线之间的第三荧光反射区域的像素点的总数目n3和总亮度R2，得到亮度平均值R0；

计算（C0-R0）/（T0-R0）的比值，将所述比值与标准曲线进行对比，得到待测样品的浓度。

3.根据权利要求2所述的荧光免疫检测方法，其特征在于，

所述C0满足下列关系：

C0=C2/n1；

所述T0满足下列关系：

T0=T2/n2

所述R0满足下列关系：

R0=R2/n3。

4.如权利要求1或2所述的荧光免疫检测方法，其特征在于:

所述第三荧光反射区域的面积与所述第一荧光反射区域相同；

所述第三荧光反射区域的面积与所述第二荧光反射区域相同。

5.一种光学系统，用于实现权利要求1至4任一项的荧光免疫检测方法，其特征在于，该光学系统包括：

光源，用于向待测样品发射入射光；

滤光片，设于待测样品产生的反射光传播的方向上远离待测样品的位置，用于筛选出所述反射光中特定波长的荧光；

感光传感装置，设于待测样品产生的反射光传播的方向上远离待所述滤光片的位置，用于获取所述反射光中特定波长的荧光信号；和

计算模块，与所述感光传感装置电连接，用于处理所述荧光信号。

6.根据权利要求5所述的光学系统，其特征在于，所述滤光片所限定反射光的波长为590nm~630nm。

7.根据权利要求5所述的光学系统，其特征在于，所述光源和所述感光传感装置位于的同一侧。

8.根据权利要求5所述的光学系统，其特征在于，所述光源为两个，对称置于所述荧光读取头的两侧。

9.根据权利要求5所述的光学系统，其特征在于，所述光源为LED灯。

10.根据权利要求5所述的光学系统，其特征在于，所述感光传感装置包括相机。