[发明专利]一种荧光免疫检测方法及光学系统

说明书

本发明提供了一种荧光免疫检测方法及光学系统，涉及荧光检测技术领域，荧光免疫检测方法包括：获取待测样品形成的反射光，并且筛选出反射光中特定波长的荧光信号；测量荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域的亮度平均值C0；测量荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域和T线对应的第二荧光反射区域的亮度平均值T0；测量荧光信号中C线和T线之间的第三荧光反射区域的亮度平均值R0；计算（C0‑R0）/（T0‑R0）的比值，将比值与标准曲线进行对比，得到待测样品的浓度；通过计算模块对指定区域中亮度平均值和像素点的方式进行计算，获取待测样品的浓度，简单可靠。

技术领域

本发明涉及荧光免疫检测技术领域，尤其涉及一种荧光免疫检测方法及光学系统。

背景技术

荧光免疫层析技术是利用于被测样本结合的荧光标记物在激发光照射下，产生特定波长范围的荧光，根据定量算法获取待测物浓度。目前常用光学系统采用光电检测原理。具体而言，激光发出入射光照射被测样品；被测样品接收入射光后产生反射光；反射光进入荧光读取头，荧光读取头内设有光电模块，光电模块接收反射光后，再将反射光转换为电信号，通过电压信号的强弱来标记待测物的浓度，信号处理复杂，获取待测物的浓度的方式复杂。

有鉴于此，需要提出一种新的技术方案来解决上述技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种荧光免疫检测方法及光学系统，信号处理简单，获取待测物的浓度的方式简单。

为实现上述目的，本发明采用以下技术手段：

本发明的第一方面公开了一种荧光免疫检测方法，包括：

获取待测样品形成的反射光，并且筛选出反射光中特定波长的荧光信号；

测量所述荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域的亮度平均值C0；

测量所述荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域和T线对应的第二荧光反射区域的亮度平均值T0；

测量所述荧光信号中C线和T线之间的第三荧光反射区域的亮度平均值R0；

计算（C0-R0）/（T0-R0）的比值，将所述比值与标准曲线进行对比，得到待测样品的浓度；

可选地，该荧光免疫检测方法包括：

获取待测样品形成的反射光，并且筛选出反射光中特定波长的荧光信号；

测量所述荧光信号中C线对应的第一荧光反射区域的像素点的总数目n1和总亮度C2，得到亮度平均值C0;

测量所述荧光信号中C线第一荧光反射区域和T线对应的第二荧光反射区域的像素点的总数目n2和总亮度T2，得到亮度平均值T0；

测量所述荧光信号中C线和T线之间的第三荧光反射区域的像素点的总数目n3和总亮度R2，得到亮度平均值R0,其中，参考基值区域位于C线与T线之间，并且面积与C线和T线相同；

计算（C0-R0）/（T0-R0）的比值，将所述比值与标准曲线进行对比，得到待测样品的浓度。

可选地，所述C0满足下列关系：C0=C2/n1；所述T0满足下列关系：T0=T2/n2；所述R0满足下列关系：R0=R2/n3。

可选地，所述第三荧光反射区域的面积与所述第一荧光反射区域相同；所述第三荧光反射区域的面积与所述第二荧光反射区域相同。

本发明的第二方面公开了一种光学系统，用于实现上述任一项的荧光免疫检测方法，该光学系统包括：

光源，用于向待测样品发射入射光；

滤光片，设于待测样品产生的反射光传播的方向上远离待测样品的位置，用于筛选出所述反射光中特定波长的荧光；

感光传感装置，设于待测样品产生的反射光传播的方向上远离待所述滤光片的位置，用于获取所述反射光中特定波长的荧光信号；和

计算模块，与所述感光传感装置电连接，用于处理所述荧光信号。