[发明专利]一种LED智能测试装置及其测试方法有效
申请号: | 202310286956.1 | 申请日: | 2023-03-23 |
公开(公告)号: | CN116148623B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 吴浩;高海峰;田晗 | 申请(专利权)人: | 深圳市西渥智控科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳昊生知识产权代理有限公司 44729 | 代理人: | 董慧婷 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 智能 测试 装置 及其 方法 | ||
1.一种LED智能测试装置的测试方法,其特征在于:
所述测试装置包括测试机架与控制系统,所述测试机架内设置有安装架,所述安装架的顶部设置有安装板,所述安装板上固定安装有伸缩气缸,所述伸缩气缸的输出端与伸缩杆的一端配合连接,所述伸缩杆的另一端配合连接有连接板,所述连接板上固定安装有对接盘,所述对接盘上开设有对接槽,所述对接槽的底部在预设位置上开设有若干安装孔,若干所述安装孔内均设置有对接机构;所述安装板上还安装有四组直线轴承,所述直线轴承上滑动连接有限位杆,所述限位杆的顶端设置有限位板,所述限位杆的底端与所述连接板固定连接;
所述安装架的底部设置有承载盘,所述承载盘上开设有承载槽,所述承载槽的侧边上开设有定位槽口,所述承载槽的底部在预设位置上开设有若干调节孔,所述调节孔内设置有电热装置;
所述对接机构包括安装壳体,所述安装壳体固定安装在所述安装孔内,所述安装壳体的两端分别设置有第一盖板与第二盖板,所述第一盖板上固定安装有电感器,所述安装壳体内滑动连接有第一对接板,所述第一对接板的底端与连接杆的一端固定连接,所述连接杆的另一端固定连接有第二对接板,所述第二对接板上安装有正极测试棒与负极测试棒;
所述安装壳体内还设置有若干条对接弹簧,所述对接弹簧的顶端与所述第二对接板固定连接,所述对接弹簧的底端与所述第二盖板固定连接;
所述第二盖板上开设有第一通孔与第二通孔,所述第一通孔上固定安装有第一清针套筒,所述第二通孔上固定安装有第二清针套筒,且所述第一清针套筒的轴线与所述正极测试棒的轴线重合,所述第二清针套筒的轴线与所述负极测试棒的轴线重合;
所述调节孔的底部均开设有通气孔,所述通气孔上均连接有进气管,所述测试机架上设置有供气罐,所述供气罐上连接有出气管,所述出气管的另一端连接有汇气腔,所述进气管的另一端与所述汇气腔相连接,所述进气管上均套装有电控阀门,所述电控阀门与所述控制系统信号连接;
所述调节孔内还设置有温度传感器与气压传感器,所述温度传感器用于检测所述调节孔内的温度信息,所述气压传感器用于检测所述调节孔内气压信息;
所述测试装置还包括第二供电模组,所述正极测试棒和负极测试棒均通过第二导线与所述第二供电模组电性连接,所述第二导线上设置有电流传感器;
所述测试方法具体包括以下步骤:
根据大数据获取待测LED晶粒在不同测试条件下所对应的预设电流值,构建知识图谱,并将所述LED晶粒在不同测试条件下所对应的预设电流值导入所述知识图谱中;其中,所述测试条件包括测试温度与测试电压;
获取测试计划表信息,基于所述测试计划表信息生成测试控制指令,基于所述测试控制指令控制伸缩气缸启动,以通过伸缩气缸驱动伸缩杆下行预设距离;
获取当前测试条件信息,并将所述当前测试条件信息导入所述知识图谱中,得到当前测试条件下待测LED晶粒所对应的标准电流值;
基于所述测试控制指令控制预设电感器断电,以使得预设对接机构上的正极测试棒和负极测试棒与预设待测LED晶粒对接,以为待测LED晶粒提供测试电流,并获取电流传感器上的实际电流值;
将所述实际电流值与标准电流值进行比较,得到电流偏差值,判断所述电流偏差值是否大于预设阈值;若所述电流偏差值大于预设阈值,则将该LED晶粒判定为不合格品,并将其标记为晶粒缺陷品;
所述测试方法还包括以下步骤:
若所述电流偏差值不大于预设阈值,则在预设时刻点上对该LED晶粒施加预设大小的电压值,并将该预设时刻点记录为第一时刻点;
获取温度传感器在每一时刻所对应测得的实际温度值,并将所述实际温度值与预设温度值进行比较,当所述实际温度值等于预设温度值时,则将该时刻点记录为第二时刻点;
将所述第二时刻点与第一时刻点进行差值运算处理,得到实际升温时间值;将所述实际升温时间值与预设时间值进行差值运算处理,得到时间偏差值;判断所述时间偏差值是否大于预设阈值;
若所述时间偏差值不大于预设阈值,则将该LED晶粒判定为合格品;
若所述时间偏差值大于预设阈值,则判断所述时间偏差值是否正值还是为负值;
若所述时间偏差值为正值,则将该LED晶粒判定为不合格品,并将其标记为晶粒过大品;若所述时间偏差值为负值,则将该LED晶粒判定为不合格品,并将其标记为晶粒过小品;
所述测试方法还包括以下步骤:
通过气压传感器实时检测并反馈调节孔内部的气压值信息,当气压值达到预设气压值后,控制对应的进气管上的电控阀门关闭,并控制抽气泵停止,然后在预设时间后再通过气压传感器获取该调节孔内部的实际气压值;将实际气压值与预设气压值进行比较,得到气压差值,若该气压差值大于预设阈值,此时可以说明该LED晶粒的气密性能不合格。
2.根据权利要求1所述的一种LED智能测试装置的测试方法,其特征在于:所述测试装置还包括第一供电模组,所述电感器均通过第一导线与所述第一供电模组电性连接,且所述第一导线上均设置有断电开关,所述断电开关与所述控制系统信号连接。
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