[发明专利]基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统

权利要求书

1.基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，包括：检测系统与成像系统；

所述检测系统与所述成像系统连接，所述检测系统用于对待测物体进行测量，得到测量数据，并将所述测量数据传输至所述成像系统；

所述成像系统用于基于所述测量数据进行建模，得到目标成像；并将所述目标成像传输至所述检测系统，所述检测系统基于所述目标成像对所述待测物体进行无损检测。

2.根据权利要求1所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：微波检测装置、图像采集装置和计算设备；

所述微波检测装置与所述成像系统连接，所述微波检测装置用于对所述待测物体进行测量，得到所述测量数据；

所述图像采集装置与所述计算设备连接，所述图像采集装置用于基于机器视觉获取所述待测物体的图像数据；

所述计算设备用于基于所述目标成像与所述图像数据，对所述待测物体进行无损检测。

3.根据权利要求2所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，所述微波检测装置包括：信号产生单元、信号发射单元以及接收天线；

所述信号产生单元用于产生微波信号，并通过所述信号发射单元向待测物体发射所述微波信号；

所述接收天线用于接收待测物体的回波信号，并将所述回波信号传输至所述成像系统。

4.根据权利要求3所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，所述成像系统得到所述目标成像的方法包括：

对所述回波信号进行采样，得到回波矩阵；

对所述回波矩阵进行预处理，基于预处理后的所述回波矩阵生成待测物体的二维图像；

基于所述二维图像生成所述目标成像。

5.根据权利要求4所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，所述预处理的方法包括：

对所述回波矩阵进行拓展处理，得到拓展矩阵；

对所述拓展矩阵进行信号筛选、时延补偿以及叠加处理，得到预处理后的所述回波矩阵。

6.根据权利要求4所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，生成所述目标成像的方法包括：

构建信号测量向量；

对所述信号测量向量进行最小化降维处理以及散射信号最优估计，得到三维图像构建模型；

基于所述三维图像构建模型，得到三维图像数据，并基于所述三维图像数据生成所述目标成像。

7.根据权利要求2所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，所述图像采集装置包括传动机构、采集设备和处理设备；

所述传动机构用于带载所述采集设备对所述待测物体进行数据采集，得到所述图像数据；

所述处理设备用于基于所述图像数据进行数据处理，得到图像信息。

8.根据权利要求2所述基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统，其特征在于，所述计算设备包括微波计算单元和图像计算单元；

所述微波计算单元用于对所述目标成像进行计算，得到待测物体内部损伤结果；

所述图像计算单元用于基于所述图像数据进行计算，得到待测物体表面的损伤结果。