[发明专利]基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统在审

专利信息
申请号: 202310296428.4 申请日: 2023-03-24
公开(公告)号: CN116203031A 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 张丹;王栋;杜小明;朱尔虹 申请(专利权)人: 苏州电光波工业智能科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01S13/88;G01S13/89;G01S13/86;G01S7/41
代理公司: 北京东方盛凡知识产权代理有限公司 11562 代理人: 刘芳
地址: 215100 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 微波 机器 视觉 技术 工业品 缺陷 智能 检测 系统
【说明书】:

发明公开了基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统,包括:检测系统与成像系统;所述检测系统与所述成像系统连接,所述检测系统用于对待测物体进行测量,得到测量数据,并将所述测量数据传输至所述成像系统;所述成像系统用于基于所述测量数据进行建模,得到目标成像;并将所述目标成像传输至所述检测系统,所述检测系统基于所述目标成像对所述待测物体进行无损检测。本发明将微波检测与机器视觉融合交叉,运用智能技术提升工业智能检测效率。可实现多角度、多方面、多维度的无损检测确定样本缺陷,实现对待测物体的物理性能与工艺参数等非电量的快速测量。

技术领域

本发明属于无损检测技术领域,具体涉及基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统。

背景技术

无损检测行业随着经济的高速发展其应用领域也不断拓展,市场规模也保持快速增长态势。作为无损检测行业中的一种主要技术,微波检测也在逐渐更新换代,在识别精准度和效率不断提升的同时,结合新一代人工智能发展及先进传感技术的发展,也使微波检测技术焕然一新。微波检测技术是以微波物理学、电子学和微波测量为基础的一门新兴的综合性无损检测技术。以微波作为信息载体,对各种适用材料构件和自然现象进行检测和诊断,其主要特点是对物体性能和工艺参数等非电量进行非接触、非污染的快速、高精度测量和监控。在非金属、复合材料、金属表面探测以及地面、湖底和地下矿藏透视等应用领域将越来越重要。机器视觉作为以机器代替人眼进行视觉行为的高新成像技术已经得到了广泛应用,其应用范围也从电子、半导体领域向工业、交通、医疗等诸多领域扩展。机器视觉之所以能如此快速发展,与其高稳定性、高分辨率、高速度,环境适应性等表现密不可分。不仅能远距离检测获取更精准、更清晰的影像资料,也能保证了目标物与操作人员的安全性。但是,目前基于微波与机器视觉相结合的技术仍在探索发现。

发明内容

本发明旨在解决现有技术的不足,提出基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统,将微波检测与机器视觉融合交叉,来提升工业智能监测效率。

为实现上述目的,本发明提供了如下方案:基于微波与机器视觉技术的工业品缺陷智能检测系统,包括:检测系统与成像系统;

所述检测系统与所述成像系统连接,所述检测系统用于对待测物体进行测量,得到测量数据,并将所述测量数据传输至所述成像系统;

所述成像系统用于基于所述测量数据进行建模,得到目标成像;并将所述目标成像传输至所述检测系统,所述检测系统基于所述目标成像对所述待测物体进行无损检测。

优选地,所述检测系统包括:微波检测装置、图像采集装置和计算设备;

所述微波检测装置与所述成像系统连接,所述微波检测装置用于对所述待测物体进行测量,得到所述测量数据;

所述图像采集装置与所述计算设备连接,所述图像采集装置用于基于机器视觉获取所述待测物体的图像数据;

所述计算设备用于基于所述目标成像与所述图像数据,对所述待测物体进行无损检测。

优选地,所述微波检测装置包括:信号产生单元、信号发射单元以及接收天线;

所述信号产生单元用于产生微波信号,并通过所述信号发射单元向待测物体发射所述微波信号;

所述接收天线用于接收待测物体的回波信号,并将所述回波信号传输至所述成像系统。

优选地,所述成像系统得到所述目标成像的方法包括:

对所述回波信号进行采样,得到回波矩阵;

对所述回波矩阵进行预处理,基于预处理后的所述回波矩阵生成待测物体的二维图像;

基于所述二维图像生成所述目标成像。

优选地,所述预处理的方法包括:

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