[发明专利]一种位置检测方法、位置检测装置及存储介质、计算装置

说明书

本申请提供一种位置检测方法，用于获取基体的位置信息，基体设有基体编码序列，该基体编码序列是二进制编码序列，其每列编码沿所述基体的移动方向依次排列且每列编码具有相同的列宽；所述位置检测方法通过映射关系预设步骤、图像获取步骤、图像处理步骤、首位编码确定步骤、目标编码解析步骤、补偿值获取步骤、基体位置获取步骤，得到基体的位置信息。由此，能够高效地对编码序列图像进行高精度解析、并进而提高对基体位置检测的精度。

技术领域

本申请涉及能够高效地对编码序列图像进行高精度解析、并进而提高位置检测精度的位置检测方法，以及使用该位置检测方法的位置检测装置和可读存储介质、计算装置。

背景技术

医用加速器是生物医学上用来对肿瘤进行放射治疗的粒子加速器装置。为了提高辐射线束对病灶轮廓的适形度，需要精确地检测并控制医用加速器中多叶光栅的每个光栅叶片的位移。通常情况下，每个光栅叶片均由伺服电机驱动，而伺服电机本身所带的编码器可作为一路位置检测装置。

但为了提高位置检测的精度，还需要设置第二路位置检测装置。在现有产品中，有基于电位器的方案，即采用一种特殊定制的导电薄膜，光栅叶片上连接一种特殊的机械结构，两者配合，使光栅叶片在运动时电位器的电位发生变化，根据电位的变化来判断光栅叶片的位置。但该方案结构复杂，工艺上不好实现；因为采用机械接触方案，故障率偏高，长时间磨损也会导致检测精度下降。

还有基于图像分析的方案，例如在每个光栅叶片末端镶嵌一块宝石，一个红外光源照射在宝石上，反射光线经光路系统进入摄像头，摄像头每次曝光，采集到一幅红外图像，在此图像上因所有叶片末端宝石对红外线的反射而形成一个高亮轮廓线，对此轮廓线通过图像分析就可以得到每个叶光栅叶片的位置。但该方案的光路系统占用空间比较大，宝石对光学的反射易受灰尘影响，镶嵌的宝石也存在脱落可能。

再者，还有对比文件1公开的位置编码的方案，即在光栅叶片的端面设置一种特殊的编码序列，通过光学装置检测编码序列进而判断出光栅叶片的位置。但在实现过程中，如何高效地对编码序列图像进行高精度解析、并进而提高位置检测的精度成为技术课题。

参考文献

专利文献

专利文献1：CN202020785333.0

发明内容

本申请的目的在于，提供一种能够高效地对编码序列图像进行高精度解析、并进而提高位置检测精度的位置检测方法，以及使用该位置检测方法的位置检测装置和可读存储介质、计算装置。

为了实现上述目的，本申请的一个方案为，一种位置检测方法，用于获取基体的位置信息，所述基体设有具有L列编码的基体编码序列，L为大于0的整数；该基体编码序列是二进制编码序列，其每列编码沿所述基体的移动方向依次排列且每列编码具有相同的列宽；