[发明专利]通过分光光度计测出反射率计算镀膜材料折射率的方法

权利要求书

1.一种通过分光光度计测出反射率计算镀膜材料折射率的方法，其特征在于，其包括以下步骤：

步骤1，通过分光光度计测出未镀膜基底的未镀膜反射曲线、以及镀膜材料的单层镀膜反射曲线；

步骤2，获取所述未镀膜基底的反射率R_0λ1，R_0λ2，……R_0λn，其中所述未镀膜基底的反射率为取所述单层镀膜反射曲线的极值点对应的所述未镀膜反射曲线于相应波长下的反射率；

步骤3，计算所述未镀膜基底的折射率Ns_λ1，Ns_λ2，……Ns_λn；

步骤4，获取所述镀膜材料的反射率E_λ1，E_λ2，……E_λn，其中所述镀膜材料的反射率为所述单层镀膜反射曲线的极值点于相应波长下的反射率；

步骤5，计算所述镀膜材料的最值反射率系数R_Eλ1，R_Eλ2，……R_Eλn，其中所述镀膜材料的最值反射率系数为所述单层镀膜反射曲线达到极值点时的最值反射率系数；

步骤6，计算所述镀膜材料的折射率N_fλ1，N_fλ2，……N_fλn。

2.根据权利要求1所述的通过分光光度计测出反射率计算镀膜材料折射率的方法，其特征在于，在所述步骤3中，所述未镀膜基底的折射率的计算公式为：

……

其中，所述R_0λ1，R_0λ2，……R_0λn为所述未镀膜基底的反射率。

3.根据权利要求2所述的通过分光光度计测出反射率计算镀膜材料折射率的方法，其特征在于，在所述步骤5中，所述镀膜材料的最值反射率系数的计算公式为：

R_Eλ1＝E_λ1×0.01

R_Eλ2＝E_λ2×0.01

……

R_Eλn＝E_λn×0.01

其中，所述E_λ1，E_λ2，……E_λn为所述镀膜材料的反射率。

4.根据权利要求3所述的通过分光光度计测出反射率计算镀膜材料折射率的方法，其特征在于，在所述步骤6中，所述镀膜材料的折射率的计算公式为：

……

其中，所述N₀为空气折射率，所述Ns_λ1，Ns_λ2，……Ns_λn为所述未镀膜基底的折射率，所述R_Eλ1，R_Eλ2，……R_Eλn为所述镀膜材料的最值反射率系数。