[发明专利]一种芯片功耗模拟方法及模拟系统

权利要求书

1.一种芯片功耗模拟方法，所述模拟方法包括：

获取待模拟芯片的功耗云图；

基于所述功耗云图，在工件的预设区域模拟所述待模拟芯片的功耗分布。

2.根据权利要求1所述的模拟方法，基于所述功耗云图，在工件的预设区域模拟所述待模拟芯片的功耗分布，包括：

根据所述功耗云图，生成扫描路径信息；

基于所述扫描路径信息，控制激光加热装置在所述工件的预设区域进行加热，以形成所述待模拟芯片的功耗分布。

3.根据权利要求2所述的模拟方法，根据所述功耗云图，生成扫描路径信息，包括：

基于所述功耗云图，生成等功耗条纹图；

基于所述等功耗条纹图，将所述功耗云图分为多个依次排布的第一条形子区域；其中，在所述第一条形子区域的长度方向上，相邻两点的功耗差不超过设定阈值；

基于所述等功耗条纹图，生成所述扫描路径信息。

4.根据权利要求3所述的模拟方法，基于所述扫描路径信息，控制激光加热装置在所述工件的预设区域进行加热，包括：

将所述预设区域划分为多个与所述第一条形子区域一一对应的第二条形子区域；

基于所述扫描路径信息，确定所述第二条形子区域的扫描速度和加载功耗；

基于所述扫描速度和所述加载功耗，控制激光加热装置在所述第二条形子区域的排布方向上依次扫描各个所述第二条形子区域，以在所述第二条形子区域进行加热，形成所述第二条形子区域的功耗分布。

5.根据权利要求4所述的模拟方法，基于所述扫描速度和所述加载功耗，控制所述激光加热装置在所述第二条形子区域的排布方向上依次扫描各个所述第二条形子区域，包括：

在所述第二条形子区域的延伸方向上，控制所述激光加热装置在所述第二条形子区域的扫描速度与所述功耗云图对应区域的温度负相关。

6.根据权利要求4所述的模拟方法，基于所述扫描速度和所述加载功耗，控制所述激光加热装置在所述第二条形子区域的排布方向上依次扫描各个所述第二条形子区域，包括：

在所述第二条形子区域的延伸方向上，控制所述激光加热装置在所述第二条形子区域进行扫描时的加载功耗与所述功耗云图对应区域的温度正相关。

7.一种芯片功耗模拟系统，所述模拟系统包括：

控制器，用于基于功耗云图在工件的预设区域模拟待模拟芯片的功耗分布；

激光加热装置，用于基于所述控制器的控制在所述工件的预设区域加热，以形成所述待模拟芯片的功耗分布。

8.根据权利要求7所述的模拟系统，所述激光加热装置包括：

激光发生器，用于向驱动装置发射激光；

驱动装置，用于响应扫描路径信息，控制所述激光在所述工件的预设区域进行加热，以形成所述待模拟芯片的功耗分布。

9.根据权利要求8所述的模拟系统，所述驱动装置包括：

激光扫描装置；

导轨，用于支撑所述激光扫描装置和改变所述激光扫描装置的位置，以在所述工件的预设区域进行激光加热，以形成所述待模拟芯片的功耗分布。

10.根据权利要求8所述的模拟系统，所述控制器还可用于控制所述激光发生器向所述驱动装置发射激光。