[发明专利]芯片封装用的自动封装设备有效
申请号: | 202310421424.4 | 申请日: | 2023-04-19 |
公开(公告)号: | CN116153823B | 公开(公告)日: | 2023-08-15 |
发明(设计)人: | 孙征 | 申请(专利权)人: | 无锡祺芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/56;B29C45/26;B29C45/40;B29C45/14 |
代理公司: | 苏州佳捷天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 32516 | 代理人: | 石俊飞 |
地址: | 214000 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 封装 自动 设备 | ||
本发明公开的属于封装设备技术领域,具体为芯片封装用的自动封装设备,包括支撑装置,所述支撑装置上安装有下封装模座和升降机构,所述升降机构上安装有上封装模座,所述下封装模座顶端凹槽内开设有封装槽,左右相邻的封装槽之间通过横槽贯通,前后相邻的封装槽之间通过竖槽贯通,本发明的有益效果是:通过设置在下封装模座上设置多个封装槽,并且通过设置的横槽和竖槽将各个封装槽连通,从而能够同时对多个封装槽内的芯片进行封装,提高了封装效率;通过在顶销的周围边沿设置环状的环形刀片,在将封装槽内封装好的芯片顶出的同时,能够对封装好的芯片的周围进行切割,节省了后期的去边操作,提高了加工效率。
技术领域
本发明涉及封装设备技术领域,具体为芯片封装用的自动封装设备。
背景技术
芯片是半导体元件产品的统称,又称微电路、微芯片、集成电路。是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分;半导体是一类材料的总称,集成电路是用半导体材料制成的电路的大型集合,芯片是由不同种类型的集成电路或者单一类型集成电路形成的产品。
现有半导体封装模具,通过螺栓将上下两个模具固定连接在一起,再向模具中注入树脂,封装完成后,将螺栓拆下取出封装好的半导体,使用螺栓的方式耗时长,并且需要较长时间对两个模具进行精准贴合,因此效率低下,加工速度慢。
发明内容
鉴于现有芯片封装用的自动封装设备中存在的问题,提出了本发明。
因此,本发明的目的是提供芯片封装用的自动封装设备,解决了现有半导体封装模具,通过螺栓将上下两个模具固定连接在一起,再向模具中注入树脂,封装完成后,将螺栓拆下取出封装好的半导体,使用螺栓的方式耗时长,并且需要较长时间对两个模具进行精准贴合,因此效率低下,加工速度慢的问题。
为解决上述技术问题,根据本发明的一个方面,本发明提供了如下技术方案:
芯片封装用的自动封装设备,包括支撑装置,所述支撑装置上安装有下封装模座和升降机构,所述升降机构上安装有上封装模座,所述下封装模座顶端凹槽内开设有封装槽,左右相邻的封装槽之间通过横槽贯通,前后相邻的封装槽之间通过竖槽贯通;
所述上封装模座底端设有插头和两个导位销,两个所述导位销对称设置在插头的两侧,所述上封装模座上开设有透气孔和注塑孔,所述透气孔的内壁插接有密封塞;
所述下封装模座的顶端开设有插接凹槽,所述凹槽内开设有封装槽、注塑进入孔、竖槽和横槽和通孔,所述注塑进入孔通过横槽与左右两侧的封装槽相贯通,所述通孔和封装槽相连通;
所述升降机构包括第一电动伸缩杆和导位杆,所述第一电动伸缩杆底端通过螺栓连接上封装模座,所述导位杆底端焊接有第二固定板,所述第二固定板通过螺栓与支撑平台固定,所述导位杆的顶端焊接连接顶梁,所述导位杆外壁滑动连接导套,所述导套外套设有空心管,所述空心管的外壁通过连接杆与上封装模座连接;
所述下封装模座的顶端两侧均开设有导位槽,所述导位槽的直径等于导位销的直径;
还包括顶升机构;
所述顶升机构包括第二电动伸缩杆,所述第二电动伸缩杆的顶端固定连接升降板,所述升降板上设置有与通孔对应数量和位置、且滑动连接的顶销,所述下封装模座的底部开设有凹腔,所述凹腔与通孔相连通,所述升降板位于所述凹腔内,所述第二电动伸缩杆的底端通过螺栓连接横梁。
作为本发明所述的芯片封装用的自动封装设备的一种优选方案,其中:所述支撑装置包括支撑平台,支撑平台上开设有供第二电动伸缩杆穿过的通孔,所述支撑平台的底端能够拆卸安装有支撑腿,所述支撑腿的外壁能够拆卸连接横梁,所述支撑平台的两端能够拆卸连接支撑柱,所述支撑柱的顶端能够拆卸连接顶梁,顶梁的两端焊接有第一固定板,所述第一固定板和支撑柱之间通过螺栓连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造