[发明专利]芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述芯片测试数据的存储方法包括：

判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；

若所述待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据所述待存储测试数据对应的数据格式，从所述待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；

将所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；

将所有所述中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将所述目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。

2.根据权利要求1所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，将所述测试条件数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：

将所述测试条件数据以JSON的形式组成条件字符串；

在所述条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。

3.根据权利要求1所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，将所述测试结果数据或所述测试属性数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：

将所述测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。

4.根据权利要求1至3任一项所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述根据所述待存储测试数据对应的数据格式，从所述待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据，包括：

从所述待存储测试数据对应的数据格式中，获取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据分别对应的位置信息；

根据所述位置信息，从所述待存储测试数据中提取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据。

5.根据权利要求4所述的芯片测试数据的存储方法，其特征在于，所述根据所述位置信息，从所述待存储测试数据中提取所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据，包括：

在所述待存储测试数据中与所述测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取所述测试条件数据；

在所述待存储测试数据中与所述测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取所述测试结果数据；

在所述待存储测试数据中与所述测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取所述测试属性数据。

6.一种芯片测试数据的存储装置，其特征在于，所述芯片的测试数据的存储装置包括：

判断模块，用于判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；

提取模块，用于若所述待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据所述待存储测试数据对应的数据格式，从所述待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；

转换模块，用于将所述测试条件数据、所述测试结果数据以及所述测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；

分隔模块，用于将所有所述中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；

存储模块，用于将所述目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。

7.根据权利要求6所述的芯片测试数据的存储装置，其特征在于，所述转换模块，具体用于：

将所述测试条件数据以JSON的形式组成条件字符串；

在所述条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。

8.根据权利要求6所述的芯片测试数据的存储装置，其特征在于，所述转换模块，具体用于：

将所述测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。