[发明专利]芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供了一种芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：若待存储测试数据的数据格式不符合预置数据格式，根据待存储测试数据的数据格式提取测试条件数据、测试结果数据及测试属性数据；将测试条件数据、测试结果数据及测试属性数据按照对应预置数据格式进行格式转换得到中间测试数据；将中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔得到目标测试数据；将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。通过本申请的方式，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，具体而言，涉及芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着芯片越来越多的被使用，市场上也涌现了越来越多的芯片测试厂家和芯片数据分析厂家。芯片测试厂家对芯片进行测试后以各自的存储格式存储测试结果，并将存储的测试结果提交给芯片数据分析厂家，以对芯片的测试结果进行数据分析。

但是，由于不同的芯片测试厂家存储测试数据的存储格式不同，使测试结果互不兼容，导致芯片数据分析厂家难以对所有测试结果进行有效的数据分析。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片测试数据的存储方法、装置、电子设备及存储介质，能够统一测试数据的数据格式，提高了测试结果之间的兼容程度，以使芯片数据分析厂家对所有测试结果进行有效的数据分析。

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试数据的存储方法，该芯片测试数据的存储方法包括：

判断用户发送的芯片的待存储测试数据对应的数据格式是否符合预置数据格式；

若待存储测试数据对应的数据格式不符合预置数据格式，则根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据；

将测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据；

将所有中间测试数据通过预设分隔符号进行分隔，得到目标测试数据；并将目标测试数据以字符分隔值文件格式进行存储。

在一种可能的实施方式中，将测试条件数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：

将测试条件数据以JSON的形式组成条件字符串；

在条件字符串首尾添加第一预设符号，得到中间测试数据。

在一种可能的实施方式中，将测试结果数据或测试属性数据按照对应的预置数据格式进行格式转换，得到中间测试数据，包括：

将测试结果数据或测试属性数据中所有数据项通过第二预设符号进行分隔，得到中间测试数据。

在一种可能的实施方式中，根据待存储测试数据对应的数据格式，从待存储测试数据中提取对应的测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据，包括：

从待存储测试数据对应的数据格式中，获取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据分别对应的位置信息；

根据位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据。

在一种可能的实施方式中，根据位置信息，从待存储测试数据中提取测试条件数据、测试结果数据以及测试属性数据，包括：

在待存储测试数据中与测试条件数据对应位置信息的对应位置，提取测试条件数据；

在待存储测试数据中与测试结果数据对应位置信息的对应位置，提取测试结果数据；

在待存储测试数据中与测试属性数据对应位置信息的对应位置，提取测试属性数据。