[发明专利]测试装置及其控制方法、批量热敏器件测试方法

权利要求书

1.一种测试装置控制方法，所述测试装置上设置有第一遮挡件、第二遮挡件、驱动组件、加热组件、采样件和采样件固定放置板；所述第一遮挡件和所述第二遮挡件设置于所述加热组件和所述采样件固定放置板之间，所述第一遮挡件与所述第二遮挡件沿高度方向上下对应设置；所述采样件固定放置板用于放置N个待测件，N大于等于1，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S100、测试装置获取到第一指令时，控制所述驱动组件开始工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板移动至第一位置，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S200、控制所述加热组件工作，控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于所述第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述第一遮挡件和所述第二遮挡件遮挡的位置辐射热能；

控制所述加热组件工作，控制所述第一遮挡件以第一预设频率在第一动作状态和第二动作状态之间交替切换，以及控制所述第二遮挡件处于第三动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，所述第三动作状态为半遮挡，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述第一遮挡件和所述第二遮挡件遮挡的位置辐射热能；

控制所述加热组件工作，控制所述第一遮挡件处于第二动作状态，以及控制所述第二遮挡件处于第一动作状态；其中，所述第一动作状态为全打开，所述第二动作状态为全遮挡，以使所述加热组件对所述采样件固定放置板上未被所述第一遮挡件和所述第二遮挡件遮挡的位置辐射热能；

步骤S300、经所述采样件获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的检测参数以确定N个待测件的受热均匀程度参数、受热响应强度参数以及受热稳定性程度参数；

步骤S400、根据至少一个检测参数，确定N个待测件的工作性能并进行提示。

2.如权利要求1所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个所述待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态的步骤具体为：

步骤S110、控制所述驱动组件带动所述采样件移动，以使所述采样件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态。

3.如权利要求2所述的测试装置控制方法，其特征在于，所述步骤S100还包括：

步骤S120、控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块处于预设接触状态。

4.如权利要求3所述的测试装置控制方法，其特征在于，在所述步骤S200和所述步骤S300之间，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S500、所述采样件在预设时间内获取到所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于预设接触状态和所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于预设接触状态；

步骤S600、所述采样件在预设时间内无法获取所述N个待测件的采样接口凸出部分输出的响应时，确认所述加热组件与所述N个待测件的内部热敏模块处于非预设接触状态和/或所述采样件与所述N个待测件的采样接口凸出部分处于非预设接触状态，并控制所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置。

5.如权利要求1-4任一项所述的测试装置控制方法，其特征在于，在所述步骤S200之前，所述测试装置控制方法还包括：

控制所述驱动组件带动所述加热组件移动，以使所述加热组件与所述采样件固定放置板上的N个待测件的热敏模块紧贴。

6.如权利要求1-4任一项所述的测试装置控制方法，其特征在于，在步骤S400之前，所述测试装置控制方法还包括：

步骤S100、所述测试装置获取到第二指令时，控制所述驱动组件工作，以使所述驱动组件带动所述采样件固定放置板从所述第一位置移动至第二位置；

其中，在所述采样件固定放置板处于第二位置时，所述采样件固定放置板上的N个待测件的采样接口凸与采样件处于第二接触状态。