[发明专利]一种引线框架用识别码及其镀银工艺在审

专利信息
申请号: 202310455808.8 申请日: 2023-04-25
公开(公告)号: CN116536719A 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 高小平;高梓航;雷诚 申请(专利权)人: 安徽立德半导体材料有限公司
主分类号: C25D5/02 分类号: C25D5/02;C25D3/46;C25D7/00;G06K19/06
代理公司: 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 代理人: 田浩
地址: 230000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 引线 框架 识别码 及其 镀银 工艺
【说明书】:

发明公开了一种引线框架用识别码及其镀银工艺,属于框架表面处理技术领域,识别码包括镀银层;在引线框架边缘选择性镀银,利用银与铜颜色的差异形成识别码,能更好地被机器识别。在半导体框架的制备过程中,选择性镀银形成识别码,根据不同的工艺流程,不同物料批次建立一个数据库;该识别码包含的信息:工单号和框架在整个铜带上的行/列坐标数据,工单号关联铜合金原材料的料号、批次、生产时间和框架的型号,准确定位框架对应的从原材料到芯片的全生产流程、生产工艺信息、质量信息等进行追溯,有利于引线框架生产企业与芯片封装企业信息共享,提高生产效率,提高芯片良率,追溯芯片信息,及时调整或改善工艺。

技术领域

本发明属于框架表面处理技术领域,具体涉及一种引线框架用识别码及其镀银工艺。

背景技术

引线框架作为集成电路的芯片载体,是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。

在集成电路料条的形成和检测过程中需要对芯片进行检测标记,在高频操作下,单独进行测试标记无法满足生产需求,人工标记无法满足目前的生产需求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种引线框架用识别码及其镀银工艺,以解决高频操作下,单独进行测试标记无法满足生产需求的问题。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现:

一种引线框架用识别码,包括镀银层;在所述引线框架边缘选择性镀银形成识别码,使用感光干膜进行遮挡,使需要镀银的部分裸露;所述识别码包括如下信息:工单号和框架在整个铜带上的行/列坐标数据,工单号关联铜合金原材料的料号、批次、生产时间和框架的型号。

进一步地,所述识别码的形状为环形、线性、点阵形中的一种。

一种引线框架用识别码的镀银工艺,化学除油、水洗、酸洗活化、水洗、烘干、贴感光干膜、曝光、显影、水洗,再采用镀银电镀液进行电镀银,最后对非镀银区进行脱除感光干膜处理。

进一步地,所述镀银电镀液包括硝酸银、表面活性剂、pH调节剂、5,5-二甲基乙内酰脲和光亮剂;

所述光亮剂通过如下步骤制备:

将5-羧基苯并三唑和苯混合,在冰水浴条件下,加入二氯亚砜,控制温度不超过30℃,反应30mi n,升温至60℃,继续反应2h,冷却至室温,减压蒸除溶剂和二氯亚砜,得到酰氯化单体;

将5-羟基-2,2'-联吡啶和吡啶混合,然后加入酰氯化单体搅拌反应30mi n,然后升温回流反应3h,冷却,加入水和碳酸氢钠中和,减压蒸馏除去溶剂和水,然后加入乙醇回流搅拌,过滤,将得到的滤液经过旋蒸,得到光亮剂。

进一步地,5-羧基苯并三唑、二氯亚砜和苯的用量比为3g:5mL:20mL;5-羟基-2,2'-联吡啶、酰氯化单体和吡啶的用量比2g:1.2g:30mL。

进一步地,表面活性剂为壬基酚聚氧乙烯醚(NP-10)、直链脂肪醇聚氧乙烯醚(AE05-80)、聚乙二醇(PEG-200)中的一种。提高各组分在镀液中的分散作用,从而提高镀液分散能力,使镀液中的银能够均匀分布沉积在阴极基体表面,电沉积镀层细致、厚度均匀。

进一步地,镀银电镀液中各原料的浓度为硝酸银30-40g/L、表面活性剂0.2-0.3g/L、5,5-二甲基乙内酰脲50-60g/L、光亮剂1.5-1.8g/L,pH调节剂:使体系pH值在8-10;余量为水。

进一步地,所述电镀银的电流密度为0.5-0.7A/dm2;电镀液温度为40-60℃。

本发明的有益效果:

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