[发明专利]电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种电芯缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取电芯图像；

对所述电芯图像进行区域截取，得到目标区域；

根据所述目标区域的位置信息确定对应的目标分类函数，并根据所述目标分类函数对所述目标区域中的缺陷进行特征提取，得到缺陷特征参数；

根据所述缺陷特征参数和预设特征参数对所述目标区域中的缺陷进行分类。

2.根据权利要求1所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述电芯图像进行区域截取，得到目标区域，包括：

通过区域截取模型对所述电芯图像进行区域截取，得到初始区域，其中，所述区域截取模型由样本电芯图像训练得到；

根据区域截取函数对所述初始区域进行区域截取，得到目标区域。

3.根据权利要求2所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，所述根据区域截取函数对所述初始区域进行区域截取，得到目标区域，包括：

接收尺寸修改指令，根据所述尺寸修改指令修改所述区域截取函数中的配置参数；

从所述初始区域中确定基准点，基于所述基准点采用修改后的所述区域截取函数进行区域截取，得到目标尺寸的目标区域。

4.根据权利要求1所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述目标区域的位置信息确定对应的目标分类函数，包括如下之一：

当所述目标区域位于极耳区域，调用预设的极耳缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于长侧边区域，调用预设的长侧边缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于角位区域，调用预设的角位缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于头部区域，调用预设的头部缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于尾部区域，调用预设的尾部缺陷分类函数作为目标分类函数。

5.根据权利要求1所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷特征参数包括如下至少之一：灰度值、轮廓面积、轮廓最小外接矩形、轮廓中心点坐标、近似圆的程度、长宽比。

6.根据权利要求5所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，在所述缺陷特征参数包括灰度值的情况下，所述灰度值通过如下步骤得到：

获取所述目标区域中的缺陷的红色通道特征值、绿色通道特征值和蓝色通道特征值，以及获取红色通道权重、绿色通道权重和蓝色通道权重；

通过灰度值公式、所述红色通道特征值、所述绿色通道特征值、所述蓝色通道特征值、所述红色通道权重、所述绿色通道权重和蓝色通道权重计算出灰度值，其中，所述灰度值公式如下：

灰度值＝红色通道权重*红色通道特征值+绿色通道权重*绿色通道特征值+蓝色通道权重*蓝色通道特征值。

7.根据权利要求5所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，在所述缺陷特征参数包括轮廓面积的情况下，所述轮廓面积通过如下步骤得到：

获取所述目标区域中的缺陷的轮廓点集P＝{P1,P2,…,Pn}，其中Pi＝(xi,yi)；

通过轮廓面积公式和所述轮廓点集计算出轮廓面积，其中，所述轮廓面积公式如下：

轮廓面积＝0.5*|(x1y2+x2y3+…+xny1)-(y1x2+y2x3+…+ynx1)|。

8.根据权利要求5所述的电芯缺陷检测方法，其特征在于，在所述缺陷特征参数包括轮廓最小外接矩形的情况下，所述轮廓最小外接矩形通过如下步骤得到：

获取所述目标区域中的缺陷的轮廓点集P＝{P1,P2,…,Pn}，其中Pi＝(xi,yi)；

通过轮廓最小外接矩形公式和所述轮廓点集计算出轮廓最小外接矩形，其中，所述轮廓最小外接矩形公式如下：

轮廓最小外接矩形的长＝max(x1,x2,...,xn)-min(x1,x2,...,xn)；

轮廓最小外接矩形的宽＝max(y1,y2,...,yn)-min(y1,y2,...,yn)；

轮廓最小外接矩形的角度＝-arctan(v2/v1)其中，v1和v2是主轴的向量。