[发明专利]电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质

说明书

本申请提出了一种电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质，包括如下步骤：获取电芯图像；对电芯图像进行区域截取，得到目标区域；根据目标区域的位置信息确定对应的目标分类函数，并根据目标分类函数对目标区域中的缺陷进行特征提取，得到缺陷特征参数；根据缺陷特征参数和预设特征参数对目标区域中的缺陷进行分类。由于本申请实施例能够根据目标区域的位置确定调用对应的目标分类函数，针对性强；另外，本申请实施例还能够根据缺陷特征参数进行缺陷分类，能够准确识别到电芯缺陷的类型，可用于后续通过缺陷反推产生缺陷的原因，从而提高电芯检测效能。

技术领域

本申请涉及电池制造技术领域，特别涉及一种电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质。

背景技术

在相关技术中，对于电池电芯的生产过程，为了避免出现因表面缺陷而导致的质量问题，往往需要对电池电芯进行外观检测以筛选掉出现缺陷的电芯，而现有的用于检测电芯外观缺陷的方法，难以准确识别具体的缺陷特征，无法对缺陷进行识别，导致难以通过缺陷反推产生缺陷原因的问题。

发明内容

本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种电芯缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质。

第一方面，本申请实施例提供了一种电芯缺陷检测方法，包括：

获取电芯图像；

对所述电芯图像进行区域截取，得到目标区域；

根据所述目标区域的位置信息确定对应的目标分类函数，并根据所述目标分类函数对所述目标区域中的缺陷进行特征提取，得到缺陷特征参数；

根据所述缺陷特征参数和预设特征参数对所述目标区域中的缺陷进行分类。

在一些实施例中，所述对所述电芯图像进行区域截取，得到目标区域，包括：

通过区域截取模型对所述电芯图像进行区域截取，得到初始区域，其中，所述区域截取模型由样本电芯图像训练得到；

根据区域截取函数对所述初始区域进行区域截取，得到目标区域。

在一些实施例中，所述根据区域截取函数对所述初始区域进行区域截取，得到目标区域，包括：

接收尺寸修改指令，根据所述尺寸修改指令修改所述区域截取函数中的配置参数；

从所述初始区域中确定基准点，基于所述基准点采用修改后的所述区域截取函数进行区域截取，得到目标尺寸的目标区域。

在一些实施例中，所述根据所述目标区域的位置信息确定对应的目标分类函数，包括如下之一：

当所述目标区域位于极耳区域，调用预设的极耳缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于长侧边区域，调用预设的长侧边缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于角位区域，调用预设的角位缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于头部区域，调用预设的头部缺陷分类函数作为目标分类函数；

当所述目标区域位于尾部区域，调用预设的尾部缺陷分类函数作为目标分类函数。

在一些实施例中，所述缺陷特征参数包括如下至少之一：灰度值、轮廓面积、轮廓最小外接矩形、轮廓中心点坐标、近似圆的程度、长宽比。

在一些实施例中，在所述缺陷特征参数包括灰度值的情况下，所述灰度值通过如下步骤得到：

获取所述目标区域中的缺陷的红色通道特征值、绿色通道特征值和蓝色通道特征值，以及获取红色通道权重、绿色通道权重和蓝色通道权重；