[发明专利]车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种车规级芯片的安全分析方法，其特征在于，所述方法包括：

获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，所述安全属性数据包括安全目标；

从所述电路网表数据中确定出针对于所述车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，所述第一故障事件为偏离所述安全目标的事件，所述第二故障事件为引发芯片瞬态故障的事件；

基于所述第一故障事件和所述第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树；

基于所述电路失效故障树，确定所述车规级芯片的安全度量数据，所述安全度量数据用于对所述车规级芯片进行安全分析。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一故障事件和所述第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树，包括：

基于所述第一故障事件与所述第二故障事件的逻辑关系，确定所述第一故障事件和所述第二故障事件之间的层级结构；

按照所述层级结构，依次确定处于各个层级的事件逻辑表达；

基于各个层级所对应的事件逻辑表达，生成所述电路失效故障树。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述按照所述层级结构，依次确定处于各个层级的事件逻辑表达，包括：

以所述第一故障事件作为顶事件，以所述第二故障时间作为底事件，按照所述层级结构自上而下的确定相邻层级之间的电路逻辑关系；

基于所述电路逻辑关系，将各个层级的事件采用其下一层级的事件进行逻辑表示，得到各个层级的事件逻辑表达。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述电路失效故障树，确定所述车规级芯片的安全度量信息，包括：

基于所述电路失效故障树，确定引发所述第一故障事件的瞬态故障事件集，所述瞬态故障事件集包括一个或多个第二故障事件；

确定所述瞬态故障事件集中各个瞬态故障事件对应的故障概率；

基于各个所述故障概率，得到所述安全度量信息。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于所述电路失效故障树，确定引发所述第一故障事件的瞬态故障事件集，包括：

基于所述电路失效故障树，识别所述第一故障事件对应的多个所述第二故障事件；

依次检测各个所述第二故障事件发生时，针对所述第一故障事件的发生信号值；

当所述第一故障事件的发生信号值为预设值时，确定出引发所述第一故障事件发生的最小第二故障事件集，将最小第二故障事件集确定为所述瞬态故障事件集。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述基于各个所述故障概率，得到所述安全度量信息，包括：

当所述第一故障事件等于各个所述瞬态故障事件的逻辑与时，将各个所述故障概率进行累积，得到所述安全度量信息。

7.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述基于各个所述故障概率，得到所述安全度量信息，包括：

当所述第一故障事件等于各个所述瞬态故障事件的逻辑或时，确定各个所述瞬态故障事件对应的对立概率，所述对立概率为1与所述故障概率的差值；

基于各个所述对立概率的累积结果，得到所述安全度量信息。

8.一种车规级芯片的安全分析装置，其特征在于，所述装置包括：

数据获取模块，用于获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，所述安全属性数据包括安全目标；

故障事件确定模块，用于从所述电路网表数据中确定出针对于所述车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，所述第一故障事件为偏离所述安全目标的事件，所述第二故障事件为引发芯片瞬态故障的事件；

故障树生成模块，用于基于所述第一故障事件和所述第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树；

安全度量模块，用于基于所述电路失效故障树，确定所述车规级芯片的安全度量数据，所述安全度量数据用于对所述车规级芯片进行安全分析。