[发明专利]车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明涉及芯片安全技术领域，公开了一种车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质。其中，该方法包括：获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，该安全属性数据包括安全目标；从电路网表数据中确定出针对于车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，第一故障事件为偏离安全目标的事件，第二故障事件为引发芯片瞬态故障的事件；基于第一故障事件和第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树；基于电路失效故障树，确定车规级芯片的安全度量数据。通过实施本发明技术方案，能够综合考虑芯片电路的逻辑结构，以精确计算出因瞬态故障影响安全目标的安全度量数据，从而实现针对于车规级芯片的有效安全分析。

技术领域

本发明涉及芯片安全技术领域，具体涉及一种车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着智能驾驶的逐步落地，越来越多的汽车零部件加强了对功能安全的需求，智能驾驶汽车零部件以及汽车芯片功能安全的基本规则已逐渐规范，以确保芯片功能正常而不发生突发问题并能正常告警和安全实施。

目前，对车规级芯片的功能安全分析方法较少，对于车规级芯片的安全失效分析还处于起步阶段，尽管采用现有的安全分析工具能够实现部分故障检测，但是，相关技术中的安全分析工具难以对车规级芯片的瞬态故障进行度量分析，从而难以有效的对车规级芯片进行安全分析。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质，以解决难以有效的对车规级芯片进行安全分析的问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种车规级芯片的安全分析方法，该方法包括：获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，该安全属性数据包括安全目标；从电路网表数据中确定出针对于车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，第一故障事件为偏离安全目标的事件，第二故障事件为引发芯片瞬态故障的事件；基于第一故障事件和第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树；基于电路失效故障树，确定车规级芯片的安全度量数据，安全度量数据用于对车规级芯片进行安全分析。

本发明实施例提供的车规级芯片的安全分析方法，通过获取车规级芯片的电路网表数据和安全属性数据，结合电路网表数据和安全属性数据，确定出第一故障事件和第二故障事件，以构建电路失效故障树，由此能够筛选出电路中容易发生瞬态故障且会导致偏离安全目标的逻辑单元。继而，通过电路失效故障树来确定安全度量数据，由此能够综合考虑芯片电路的逻辑结构，以能够精确计算出因瞬态故障影响安全目标的安全度量数据，从而通过该安全度量数据对车规级芯片进行有效的安全分析。

结合第一方面，在一种实施方式中，基于第一故障事件和第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树，包括：基于第一故障事件与第二故障事件的逻辑关系，确定第一故障事件和第二故障事件之间的层级结构；按照层级结构，依次确定处于各个层级的事件逻辑表达；基于各个层级所对应的事件逻辑表达，生成电路失效故障树。

本发明实施例提供的车规级芯片的安全分析方法，根据第一故障事件与第二故障事件之间的层级结构，依次构建各个层级的事件逻辑表达，使得各个层级之间的事件逻辑表达相依赖，以生成相应的电路失效故障树。通过该电路失效故障树明确瞬态故障的传播路径，便于有效识别瞬态故障而导致的安全问题。

结合第一方面或其对应的实施方式，在一种实施方式中，按照层级结构，依次确定处于各个层级的事件逻辑表达，包括：以第一故障事件作为顶事件，以第二故障时间作为底事件，按照层级结构自上而下的确定相邻层级之间的电路逻辑关系；基于电路逻辑关系，将各个层级的事件采用其下一层级的事件进行逻辑表示，得到各个层级的事件逻辑表达。