[发明专利]外观缺陷检测算法参数的设置方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，包括：

设置待检测的激光芯片的外观缺陷类型的参数；

根据所述外观缺陷类型以及所述激光芯片的检测面设置所述激光芯片的外观图像的分割方式以及检测方式的参数；

根据所述激光芯片的芯片类型设置所述激光芯片的检测面的参数，并导入所述检测面的标准参数；

根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数。

2.根据权利要求1所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，所述设置待检测的激光芯片的外观缺陷类型的参数，包括：

若终端中不存在所述激光芯片的外观缺陷类型，新增所述激光芯片的外观缺陷类型的缺陷名称以及缺陷标识符；

若终端中存在与所述激光芯片不匹配的外观缺陷类型，删除与所述激光芯片不匹配的外观缺陷类型的缺陷名称以及缺陷标识符。

3.根据权利要求1所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，设置所述激光芯片的外观图像的分割方式的参数，具体包括：

若所述分割方式为阈值分割，根据所述检测面设置所述阈值分割的颜色空间、第一分割阈值、异常区域的颜色；

根据所述外观缺陷类型设置所述阈值分割的第一缺陷标准。

4.根据权利要求1所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，设置所述激光芯片的外观图像的分割方式的参数，具体还包括：

若所述分割方式为颜色分割，根据所述检测面设置所述颜色分割的第二分割阈值、异常区域的颜色；

根据所述外观缺陷类型设置所述颜色分割的第二缺陷标准。

5.根据权利要求1所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，设置所述激光芯片的外观图像的检测方式的参数，具体包括：

根据所述外观缺陷检测类型设置所述激光芯片的外观图像的检测方式的第三缺陷标准；

若所述检测方式为白纹检测，设置所述白纹检测的第一算法阈值；

若所述检测方式为异色检测，设置所述白纹检测的区域外扩参数以及第二算法阈值。

6.根据权利要求1所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，所述根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数，包括：

若采用轮廓定位所述激光芯片的检测面，根据所述检测面设置所述激光芯片的外观图像的轮廓中的蚀槽范围、关键区域范围；其中，所述检测面包括所述激光芯片的AR面和HR面；

设置所述激光芯片的外观图像的轮廓上下边缘的颜色空间以及偏移补偿值；

若采用面定位所述激光芯片的检测面，根据所述检测面设置所述激光芯片的外观图像的第三分割阈值、异常区域的颜色；其中，所述检测面包括所述激光芯片的正面和底面；

设置定位所述激光芯片的检测面的亮度补偿值。

7.根据权利要求1所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法，其特征在于，在所述根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数之后，还包括：

根据参数设置后的外观缺陷检测算法对所述激光芯片进行外观缺陷检测。

8.一种外观缺陷检测算法参数的设置装置，其特征在于，包括：

第一设置单元，用于设置待检测的激光芯片的外观缺陷类型的参数；

第二设置单元，用于根据所述外观缺陷类型以及所述激光芯片的检测面设置所述激光芯片的外观图像的分割方式以及检测方式的参数；

第三设置单元，用于根据所述激光芯片的芯片类型设置所述激光芯片的检测面的参数，并导入所述检测面的标准参数；

第四设置单元，用于根据所述检测面的参数以及所述分割方式的参数设置定位所述激光芯片的检测面的参数。

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的外观缺陷检测算法参数的设置方法。