[发明专利]一种存储器的测试方法

权利要求书

1.一种存储器的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

步骤A：

按照第一地址顺序，于所述存储器的测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形，其中，所述测试区域内的所有存储单元地址连续；

按照第二地址顺序，于所述测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；

按照第三地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

按照第四地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

步骤B：

按照第五地址顺序，于所述测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；

按照第六地址顺序，于所述测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；

按照第七地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

按照第八地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

其中，所述第二地址顺序与所述第四地址顺序相同且与所述第三地址顺序相反，所述第六地址顺序与所述第八地址顺序相同且与所述第七地址顺序相反。

2.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述第二地址顺序与所述第六地址顺序相同，所述第三地址顺序与所述第七地址顺序相同。

3.根据权利要求2所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述第一地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序，所述第二地址顺序、所述第四地址顺序、所述第六地址顺序及所述第八地址顺序为地址递增顺序，所述第三地址顺序及所述第七地址顺序为地址递减顺序，所述第五地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序；或者，所述第一地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序，所述第二地址顺序、所述第四地址顺序、所述第六地址顺序及所述第八地址顺序为地址递减顺序，所述第三地址顺序及所述第七地址顺序为地址递增顺序，所述第五地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序。

4.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述第二地址顺序与所述第六地址顺序相反，所述第三地址顺序与所述第七地址顺序相反。

5.根据权利要求4所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述第一地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序，所述第二地址顺序及所述第四地址顺序为地址递增顺序，所述第三地址顺序为地址递减顺序，所述第五地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序，所述第六地址顺序及所述第八地址顺序为地址递减顺序，第七地址顺序为地址递增顺序；或者，所述第一地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序，所述第二地址顺序及所述第四地址顺序为地址递减顺序，所述第三地址顺序为地址递增顺序，所述第五地址顺序为地址递增顺序或者地址递减顺序，所述第六地址顺序及所述第八地址顺序为地址递增顺序，第七地址顺序为地址递减顺序。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述步骤A在所述步骤B之前执行，或者，所述步骤B在所述步骤A之前执行。

7.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述正棋盘格图形中，第一个执行写操作的存储单元被赋值为1；所述反棋盘格图形中，第一个执行写操作的存储单元被赋值为0。

8.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，对所述存储单元执行写操作的方法包括：对所述存储单元施加置位电压，使得所述存储单元执行写1操作；对所述存储单元施加复位电压，使得所述存储单元执行写0操作；

对所述存储单元执行读操作的方法包括：读取所述存储单元的电压，若读取的电压为置位电压，则对所述存储单元执行读1操作；若读取的电压为复位电压，则对所述存储单元执行读0操作。

9.根据权利要求8所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：将读取的电压与期望电压进行比较来对所述存储单元进行故障诊断的步骤。

10.根据权利要求1所述的存储器的测试方法，其特征在于，所述存储器包括嵌入式存储器，其中，所述嵌入式存储器包括静态随机存取存储器。