[发明专利]一种存储器的测试方法

说明书

本发明提供一种存储器的测试方法，包括：按照第一地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；按照第二地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；按照第三地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第四地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第五地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；按照第六地址顺序于测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；按照第七地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作；按照第八地址顺序对测试区域内的所有存储单元进行读操作。通过本发明的测试方法，解决了现有MarchC+算法在某些测试条件下存在复杂度高、测试时间长的问题。

技术领域

本发明涉及存储器测试技术领域，特别是涉及一种存储器的测试方法。

背景技术

存储器是各种电子设备存储数据的重要部件，随着集成电路技术的发展，存储器的精密程度和复杂程度日益提高。如何实现存储器的全面测试和故障诊断，对保证存储器功能的正确性和可靠性尤为重要。

March算法是根据存储器故障类型提出的一种具有较高故障覆盖率和检测相对方便的一种算法，它顺应测试发展逐步替代传统检测算法，并且根据故障类型的检测不断演化改进，形成许多新型的March算法变种，如MarchC算法。

MarchC+算法是在MarchC算法的基础上做进一步改进得到，其算法表达式为，是目前存储器故障诊断的主流算法。

但在某些测试条件下，MarchC+算法仍存在问题；例如，在测试机不支持对各存储单元单独操作的情况下即，测试机是对全部存储单元执行一次完整的读写操作后再查看测试结果，而不是对存储单元逐个执行读写操作并查看测试结果，这就会使得某些故障无法在敏化状态时被检测出来（如，干扰耦合读不变故障中故障原语为r0;1/↓/–和r1;0/↑/–的故障），导致MarchC+算法的故障覆盖率有所下降；而且，由于MarchC+算法的复杂度有14N（N为存储单元的数量，14N为对存储器单元进行14次读写操作），复杂度相对较高，不利于缩短测试时间成本。

鉴于此，提出一种新的测试方法，在测试过程中，既能对存储器制造经常出现的故障进行覆盖，又能降低算法复杂度、缩短测试时间成本，是本领域技术人员迫切需要解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储器的测试方法，用于解决现有MarchC+算法在某些测试条件下存在复杂度相对较高、测试时间相对较长的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储器的测试方法，所述测试方法包括：

步骤A：

按照第一地址顺序，于所述存储器的测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形，其中，所述测试区域内的所有存储单元地址连续；

按照第二地址顺序，于所述测试区域内的所有存储单元中写入正棋盘格图形；

按照第三地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

按照第四地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

步骤B：

按照第五地址顺序，于所述测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；

按照第六地址顺序，于所述测试区域内的所有存储单元中写入反棋盘格图形；

按照第七地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

按照第八地址顺序，对所述测试区域内的所有存储单元进行读操作；

其中，所述第二地址顺序与所述第四地址顺序相同且与所述第三地址顺序相反，所述第六地址顺序与所述第八地址顺序相同且与所述第七地址顺序相反。