[发明专利]芯粒的测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯粒的测试方法，其特征在于，包括：

将目标集成芯片中的芯粒分为若干个芯粒组；

针对每一个芯粒组，均执行：向当前芯粒组中的第一个芯粒输入测试信号，对当前芯粒组中最后一个芯粒的输出信号进行检测，确定当前芯粒组是否存在故障；其中，当前芯粒组中的各芯粒互相电连接；

分别对存在故障的芯粒组中的每一个芯粒进行检测，以确定故障芯粒；

确定所述故障芯粒中包含的第一类寄存器、第二类寄存器和微控制单元，并分别对所述第一类寄存器、所述第二类寄存器和所述微控制单元进行测试校验，以根据校验结果确定所述故障芯粒的故障区域；其中，所述第一类寄存器为在芯片运行过程中不会进行翻转的寄存器，所述第二类寄存器为可读可写寄存器；

所述将目标集成芯片中的芯粒分为若干芯粒组，包括：

确定所述目标集成芯片中每一个芯粒的故障指数；

将故障指数大于第一阈值的芯粒单独作为一个芯粒组；

根据所述故障指数大于第一阈值的芯粒位于所述目标集成芯片中的位置，对剩余的芯粒进行分区；

针对每一个区域，均执行：将当前区域中所述故障指数小于第二阈值的芯粒分为一个芯粒组，计算剩余的未分组芯粒的相关性，以根据所述相关性对剩余的未分组芯粒进行分组；其中，所述第二阈值小于所述第一阈值；

所述故障指数是通过如下公式计算的：

式中，F为当前芯粒的故障指数，为当前芯粒的重要等级，为当前芯粒的故障概率，为所述第一类寄存器的影响系数，为所述第一类寄存器的数量，为所述第二类寄存器的影响系数，为所述第二类寄存器的数量，为微控制单元的影响系数，为当前芯粒中内置的微控制单元的数量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一类寄存器是通过如下校验方式进行校验的：

读取设定时钟周期内每一个第一类寄存器的数值；

在每一个时钟周期内，均将每一个第一类寄存器的数值与预先获取的每一个第一类寄存器的初始配置值进行比较；

若在设定时钟周期内，比较结果均为相同，则确定该第一类寄存器无故障；

若在设定时钟周期内，比较结果存在不同，则确定该第一类寄存器故障。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二类寄存器是通过如下校验方式进行校验的：

获取所述第二类寄存器的校验标准表；其中，所述校验标准表中包括每一个第二类寄存器的初始配置值，以及在每一个目标时钟周期下每一个第二类寄存器的理论值；

在每一个目标时钟周期内，均执行：

读取当前目标时钟周期下每一个第二类寄存器的实际值，并将所述实际值写入至所述校验标准表中；

确定所述故障芯片在当前时钟周期内是否产生有效的写使能信号；

基于当前目标时钟周期下每一个第二类寄存器的实际值、写使能信号的产生结果、所述校验标准表中在当前目标时钟周期下每一个第二类寄存器的理论值和上一个目标时钟周期时每一个第二类寄存器的实际值，确定每一个第二类寄存器的校验结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于当前目标时钟周期下每一个第二类寄存器的实际值、写使能信号的产生结果、所述校验标准表中在当前目标时钟周期下每一个第二类寄存器的理论值和上一个目标时钟周期时每一个第二类寄存器的实际值，确定每一个第二类寄存器的校验结果，包括：

针对每一个第二类寄存器，均执行：

判断当前目标时钟周期下该第二类寄存器的实际值与所述校验标准表中该第二类寄存器在当前目标时钟周期下的理论值是否一致；

若一致，则该第二类寄存器在当前目标时钟周期内无故障；

若不一致，且该第二类寄存器在当前目标时钟周期下的实际值与上一个目标时钟周期的实际值不同，并且未产生写使能信号时，则确定该第二类寄存器在当前目标时钟周期内疑似故障；否则，则确定该第二类寄存器在当前目标时钟周期内故障。