[发明专利]一种厚度测量装置及厚度测量方法

权利要求书

1.一种厚度测量装置，其特征在于，包括装置本体；

所述装置本体包括本体底面和本体侧面，所述本体侧面垂直于本体底面，且所述本体底面呈平面；

所述本体侧面上沿垂直于本体底面的高度方向连续设有至少一级斜台阶，所述斜台阶的斜边与本体底面形成呈锐角的夹角。

2.根据权利要求1所述的厚度测量装置，其特征在于，所述本体侧面上设有至少两级所述斜台阶，每级斜台阶的斜边两端分别为第一端点和第二端点，所述第一端点到本体底面的的高度低于所述第二端点到本体底面的高度；

任意相邻的两级斜台阶中，上级斜台阶的斜边的第一端点与下级斜台阶的斜边的第二端点的高度相等。

3.根据权利要求2所述的厚度测量装置，其特征在于，各级所述斜台阶的斜边与所述本体底面形成的夹角相等。

4.根据权利要求3所述的厚度测量装置，其特征在于，各级所述斜台阶的斜边的第一端点在本体底面上的X方向坐标位置相同，第二端点在本体底面上的X方向坐标位置相同，X方向为与本体侧面相平行的方向。

5.根据权利要求4所述的厚度测量装置，其特征在于，所述本体侧面上还设有刻度尺，所述刻度尺的长度方向平行于所述X方向。

6.根据权利要求5所述的厚度测量装置，其特征在于，所述刻度尺用于显示在当前夹角设计下各个X方向坐标位置所对应的转换高度；

所述转换高度按照正切函数Tan(α)＝h₀/b转换获得，其中α为所述夹角，b为当前X方向坐标位置至原点的长度，h₀为转换高度。

7.根据权利要求1所述的厚度测量装置，其特征在于，各级所述斜台阶中，最低级斜台阶的斜边的第一端点位于本体底面上或者与本体底面相距预设基本高度。

8.根据权利要求1所述的厚度测量装置，其特征在于，所述夹角小于45度。

9.一种厚度测量方法，用于检测被测物的厚度，其特征在于，包括：

提供如权利要求1至8任一项所述的厚度测量装置；

将所述厚度测量装置垂直放入被测物后，确定其斜边与被测物顶面相交的目标斜台阶，以及目标斜台阶的斜边与被测物的相交点；

根据目标斜台阶的斜边与本体底面的夹角，斜边的第一端点至相交点的水平距离，以及斜边的第一端点至目标底面的高度，来确定被测物的厚度。

10.根据权利要求8所述的厚度测量方法，其特征在于，所述被测物为湿膜。