[发明专利]平行度检测装置及其检测方法在审
申请号: | 202310541950.4 | 申请日: | 2023-05-12 |
公开(公告)号: | CN116518882A | 公开(公告)日: | 2023-08-01 |
发明(设计)人: | 陈健威 | 申请(专利权)人: | 陈健威 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01C9/00;G02B23/00;G02B25/00;G02B7/182 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 简伟健 |
地址: | 529000 广东省江*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平行 检测 装置 及其 方法 | ||
1.平行度检测装置,用于检测杆体之间的平行度,其特征在于,包括:
瞄准机构,包括第一底座和安装于所述第一底座的瞄准器,所述瞄准器为自准直仪或望远镜,当所述第一底座设于杆体,所述瞄准机构的瞄准方向与杆体垂直;
反射机构,包括第二底座和安装于所述第二底座的两个第一反射镜,两个所述第一反射镜互相垂直并朝向所述瞄准器,当所述第二底座设于杆体,两个所述第一反射镜的相交线与杆体平行;
其中,所述第一底座和所述第二底座均设有水平检测器和调节件,所述水平检测器适于检测对应杆体的水平度,所述调节件适于调整所述水平检测器的水平位置。
2.根据权利要求1所述的平行度检测装置,其特征在于:所述第一底座和所述第二底座均设为V型座。
3.根据权利要求2所述的平行度检测装置,其特征在于:还包括磁吸座,所述磁吸座用于吸附于机架,所述磁吸座与所述V型座之间连接有调节杆,所述调节杆用于调整所述磁吸座与所述V型座的距离。
4.根据权利要求1所述的平行度检测装置,其特征在于:所述第一底座设有第二反射镜,所述第二反射镜与所述瞄准器的中心线呈45°角布置并朝向所述第一反射镜。
5.根据权利要求4所述的平行度检测装置,其特征在于:所述第一底座设有第一驱动器,所述第一驱动器与所述第二反射镜连接,当所述瞄准器的中心线与杆体平行,所述第一驱动器用于驱动所述第二反射镜绕所述瞄准器的中心线转动,当所述瞄准器的中心线垂直于杆体,所述第一驱动器用于驱动所述第二反射镜沿所述瞄准器的中心线移动。
6.根据权利要求1所述的平行度检测装置,其特征在于:所述瞄准器的中心线垂直于杆体,所述第一底座设有第二驱动器,所述第二驱动器与所述瞄准器连接并用于驱动所述瞄准器绕平行于杆体的转动轴转动或沿上下方向移动。
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的平行度检测装置,其特征在于:所述瞄准机构还包括激光器,所述激光器安装于所述第一底座,所述激光器的发射方向与所述瞄准机构的瞄准方向相同。
8.根据权利要求1至6中任意一项所述的平行度检测装置,其特征在于:还包括电子目镜,所述电子目镜设于所述瞄准器的观察端,所述电子目镜与终端设备通过无线信号连接。
9.平行度检测方法,用于平行度检测装置,瞄准机构和反射机构中,其一为基准机构,另一为目标机构,其特征在于,包括以下步骤:
调整基准机构,使基准机构的水平度与基准杆体的水平度相同;
保持基准机构的水平度不变,再次调整基准机构,使基准机构的瞄准方向与基准杆体垂直,或者基准机构的两个第一反射镜的相交线与基准杆体平行;
通过目标机构的水平检测器记录基准杆体的水平度;
将目标机构放置于目标杆体,根据目标机构的水平检测器记录的水平度数据调整目标杆体的水平度,使目标杆体与基准杆体的水平度一致;
根据瞄准器的瞄准基准经两个第一反射镜反射后形成的偏差值,调整目标杆体相对基准杆体所在竖直面的平行度,直至偏差值归零。
10.根据权利要求9所述的平行度检测方法,瞄准机构还包括安装于第一底座的激光器,所述激光器的发射方向与所述瞄准机构的瞄准方向相同,其特征在于,在步骤根据瞄准器的瞄准基准经两个第一反射镜反射后形成的偏差值,调整目标杆体相对基准杆体所在竖直面的平行度,直至偏差值归零前,还包括以下步骤:
调整目标杆体相对基准杆体所在竖直面的平行度,使激光器的激光束射向第一反射镜。
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