[发明专利]存储器故障测试方法在审
| 申请号： | 202310642714.1 | 申请日： | 2023-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN116597889A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 钟岱山;陈斌斌;张有志 | 申请（专利权）人： | 粤芯半导体技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 冯启正 |
| 地址： | 510000 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 故障测试 方法 | ||
1.一种存储器故障测试方法，其特征在于，包括：
向储存器的每个地址写入反棋盘格数据；
进行延时操作；
从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据和读棋盘格数据的操作；
从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、写反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据和写棋盘格数据的操作；
从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据和读反棋盘格数据的操作；
从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、写棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据和写反棋盘格数据的操作；
其中，所述棋盘格数据为1开头，0和1交替设置的数字串，所述反棋盘格数据为0开头，1和0交替设置的数字串。
2.如权利要求1所述的存储器故障测试方法，其特征在于，还包括：在每次读操作和后将读取的数据与期望值进行比较，以产生测试结果。
3.如权利要求1所述的存储器故障测试方法，其特征在于，按照任意顺序向储存器的每个地址进行写入反棋盘格数据。
4.如权利要求3所述的存储器故障测试方法，其特征在于，从高地址向低地址依次写入反棋盘格数据。
5.如权利要求3所述的存储器故障测试方法，其特征在于，从低地址向高地址依次写入反棋盘格数据。
6.一种存储器故障测试方法，其特征在于，包括：
向储存器的每个地址写入反棋盘格数据；
从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据和读棋盘格数据的操作；
从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、写反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据和写棋盘格数据的操作；
进行延时操作；
从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据和读反棋盘格数据的操作；
从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、写棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据和写反棋盘格数据的操作；
其中，所述棋盘格数据为1开头，0和1交替设置的数字串，所述反棋盘格数据为0开头，1和0交替设置的数字串。
7.如权利要求6所述的存储器故障测试方法，其特征在于，还包括：在每次读操作和后将读取的数据与期望值进行比较，以产生测试结果。
8.如权利要求6所述的存储器故障测试方法，其特征在于，按照任意顺序向储存器的每个地址进行写入反棋盘格数据。
9.如权利要求8所述的存储器故障测试方法，其特征在于，从高地址向低地址依次写入反棋盘格数据。
10.如权利要求8所述的存储器故障测试方法，其特征在于，从低地址向高地址依次写入反棋盘格数据。
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