[发明专利]存储器故障测试方法

说明书

本发明提供了一种存储器故障测试方法，包括：向每个地址写入反棋盘格数据；进行延时操作；从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据和读棋盘格数据的操作；从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、写反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据和写棋盘格数据的操作；从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据和读反棋盘格数据的操作；从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、写棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据和写反棋盘格数据的操作。

技术领域

本发明涉及半导体测试技术领域，尤其是涉及一种存储器故障测试方法。

背景技术

随着存储器的容量越来越大，集成度越来越高，使得存储器内部的晶体管越来越密集，以及器件参数的微小浮动和特性的一些变化等情况下，导致存储器中出现的干扰故障问题日益突出。

目前主要的存储器算法测试主要是MarchC+算法，它拥有较高故障覆盖率且测试时间较短。例如，针对故障原语为r0；1/↓/–的故障，即某两个存储单元，存储单元a，b的状态为(r0,1)时，b单元出现1跳变为0。针对该故障的测试方法：先将存储器初始化为1，之后按照降序的顺序进行w0，r0操作，这样才能达到敏化状态(r0,1)的目的，由于故障数据为0，其正确的数据为1，所以在该两步操作之前加上一个r1操作，即可检测该故障。

但是测试的故障覆盖仍然不全面，覆盖率达不到100％。对于单一单元故障中的写干扰故障(WDF)和耦合故障中的写不变(CFdsxwx)等故障无法检测，对于双单元故障中的耦合写破坏故障(CFwd)也无法检测。

发明内容

本发明的目的在于提供一种存储器故障测试方法，可以测试到写干扰故障、干扰耦合写不变故障和耦合写破坏故障，从而可以提高故障测试的覆盖率，并且，还可以提高存储器故障测试的效率。

为了达到上述目的，本发明提供了一种存储器故障测试方法，包括：

向储存器的每个地址写入反棋盘格数据；

进行延时操作；

从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据和读棋盘格数据的操作；

从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、写反棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据和写棋盘格数据的操作；

从高地址向低地址依次进行读棋盘格数据、读棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据、写反棋盘格数据、读反棋盘格数据、写反棋盘格数据和读反棋盘格数据的操作；

从高地址向低地址依次进行读反棋盘格数据、写棋盘格数据、写棋盘格数据、读棋盘格数据和写反棋盘格数据的操作；

其中，所述棋盘格数据为1开头，0和1交替设置的数字串，所述反棋盘格数据为0开头，1和0交替设置的数字串。

可选的，在所述的存储器故障测试方法中，还包括：在每次读操作和后将读取的数据与期望值进行比较，以产生测试结果。

可选的，在所述的存储器故障测试方法中，按照任意顺序向储存器的每个地址进行写入反棋盘格数据。

可选的，在所述的存储器故障测试方法中，从高地址向低地址依次写入反棋盘格数据。

可选的，在所述的存储器故障测试方法中，从低地址向高地址依次写入反棋盘格数据。

本发明还提供了一种存储器故障测试方法，包括：

向储存器的每个地址写入反棋盘格数据；