[发明专利]一种采样点选取方法及系统、采样方法及系统、存储介质在审
申请号: | 202310642997.X | 申请日: | 2023-06-01 |
公开(公告)号: | CN116645139A | 公开(公告)日: | 2023-08-25 |
发明(设计)人: | 李宏典;李晓南;蔡胜;高亚珍;卢丽英;尚保刚;陈正领;郝伟 | 申请(专利权)人: | 杭州粮泰智能科技有限公司 |
主分类号: | G06Q30/0204 | 分类号: | G06Q30/0204;G01N1/10;G06Q10/083 |
代理公司: | 深圳市育科知识产权代理有限公司 44509 | 代理人: | 洪秀凤 |
地址: | 311300 浙江省杭州市临安区青山湖*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采样 选取 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种采样点选取方法,其特征在于,包括以下步骤:
基于运粮车的车厢获取待取样区;
将所述待取样区划分为至少两个取样区域;
在取样区域中选取至少两个目标取样区域;
将所述目标取样区域划分为至少两个选点区;
在其中一个选点区内随机生成采样点,任意两个所述采样点的连线不与车厢的边框平行。
2.根据权利要求1所述的选取方法,其特征在于,通过测距设备对运粮车进行扫描测量,获取运粮车的长度值,优选的,还获取运粮车的宽度和高度信息;
优选的,对运粮车进行扫描测量,包括:定义坐标系的x轴,与X轴垂直的方向为Y轴,测距设备沿X轴或与X轴平行的方向运动;
设定运粮车的停放区,所述停放区的一条边与X轴平行,一条边与Y轴平行,测距设备移动过程中,第一次参数变化的坐标为(X1,Y1),第二次参数变化的坐标为(X2,Y1),基于两个坐标,得到运粮车的长度值;
基于运粮车的长度值得到车厢的长度值;
测距设备穿过停放区的左右两侧,第一次参数变化的坐标为(X3,Y3),第二次参数变化的坐标为(X3,Y4),基于两个坐标,得到车厢的宽度值;
优选的,设定垂直于X轴和Y轴的方向为Z轴,通过测距设备参数变化中Z坐标的变化,得到车厢的高度信息。
3.根据权利要求1所述的选取方法,其特征在于,获取第一预设位置、第二预设位置、第三预设位置的位置信息;
基于第一预设位置、第二预设位置、第三预设位置的位置信息,建立坐标系;优选的,所述坐标系以第三预设位置为原点;
设定运粮车的停放区,设定第一基准线为X轴;优选的,所述停放区为矩形;
设定第二基准线,所述第二基准线穿过停放区且与X轴平行;
获取第一距离L1、第二距离L2和第三距离L3;
若所述第一预设位置与第二预设位置的连线与第二基准线重合,所述第一距离L1为运粮车前方第一预设位置至运粮车前端与第二基准线交点的距离;所述第二距离L2为运粮车后方第二预设位置至运粮车后端与第二基准线交点的距离;所述第三距离L3为运粮车左侧或右侧第三预设位置至运粮车左端或右端的垂直距离;
若所述第一预设位置与第二预设位置的连线与第二基准线不重合,第一距离L1为第一预设位置至运粮车前端与第二基准线交点的距离,其中,L1斜为第一预设位置至运粮车前端与第二基准线交点的直线距离,L1直为第一预设位置至第二基准线的垂直距离;第二距离L2为第二预设位置至运粮车后端与第二基准线交点的距离,其中,L2斜为第二预设位置至运粮车后端与第二基准线交点的直线距离,L2直为第二预设位置至第二基准线的垂直距离;第三距离L3为第三预设位置至运粮车左端或右端的垂直距离;
获取第一预设位置的坐标(X1,Y1)、第二预设位置的坐标(X2,Y2),基于公式L长=|X1-X2|-L1-L2,得到运粮车的长度值;
基于运粮车的长度值得到车厢的长度值和宽度值,优选的,所述车厢为待取样区。
4.根据权利要求3所述的选取方法,其特征在于,
基于运粮车的长度值,获取待取样区的长度值,
以X轴为基准,为待取样区设定宽度值;
或者,
基于运粮车的长度值,获取待取样区的长度值,
以X轴为基准,预存储运粮车的长度值和宽度值,基于运粮车的长度值,得到与长度值匹配的宽度值,若长度值匹配多个宽度值,则选取最大的宽度值作为待取样区的宽度值;
或者,
以X轴为基准,基于运粮车的长度值,获取运粮车的型号,基于运粮车的型号,获取待取样区的长度值和宽度值;优选的,基于待取样区与X轴之间的距离L3,生成待取样区四个端点的坐标。
5.根据权利要求1所述的选取方法,其特征在于,所述取样区域由待取样区均等划分得到;
优选的,所述待取样区和取样区域均为矩形,将所述待取样区划分为棋盘状的取样区域;
在棋盘状的取样区域中选取目标取样区域,所述目标取样区域左右、上下均不相邻;再优选的,所述目标取样区域的横坐标与纵坐标均不相同。
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