[发明专利]一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法

说明书

本发明涉及电路测试领域，公开了一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法，其中装置包括工作台和设置在工作台上的测试机构，所述工作台上设置有用于支撑待测件的支撑组件和与支撑组件四个方向分别对应的四个限位组件，工作台的内部设置有用于带动支撑组件转动的控制组件；启动控制组件与其中三个限位组件接触，使得这三个限位组件解除对支撑组件三个对应方向的限位，再启动控制组件通过剩余一个限位组件可带动支撑组件向未被解除限位的方向偏转。本发明通过支撑组件、限位组件和控制组件等之间的配合，可使得支撑组件带动待测件分别向前后左右四个方向偏转，以便于待测件上不同方向元件的快速测试。

技术领域

本发明涉及电路测试技术领域，特别涉及一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件，采用一定工艺把晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，形成具有所需电路功能的微型结构。集成电路在加工过程中需要进行测试，保证所有元件可以正常使用。

如中国专利公告号CN216387304U，公开了名为一种集成电路测试设备，包括主体，所述主体的外壁固定连接有支撑架，所述支撑架的内壁设置有控制设备，所述控制设备的外壁设置有搁板，所述搁板的外壁与支撑架的内壁滑动连接，所述搁板的外壁固定连接有外框，所述外框的内壁设置有夹具，所述主体的外壁固定连接有连接柱，所述连接柱的内壁设置有照明设备，所述连接柱的内壁设置有放大设备。通过搁板上面的夹具可以对集成电路进行加紧固定，可以通过转动控制设备来控制搁板的位置，达到便于检测的目的。

该申请通过转动控制设备可带动集成电路偏转，但是控制设备基于主体的转动方向受限，使得集成电路的偏转方向只能基于主体逆时针偏转，对于集成电路其他方向的测试仍然不便，整体的测试效率仍有待提高，存在一定的使用局限性。

因此，有必要提供一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法解决上述技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种集成电路的可靠性测试装置及测试方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，设计一种可带动集成电路向前后左右四个方向偏转，以便于测试的可靠性测试装置及测试方法。

基于上述思路，本发明提供如下技术方案：一种集成电路的可靠性测试装置，包括工作台和设置在工作台上的测试机构，所述工作台上设置有用于支撑待测件的支撑组件和与支撑组件四个方向分别对应的四个限位组件，工作台的内部设置有用于带动支撑组件转动的控制组件；启动控制组件与其中三个限位组件接触，使得这三个限位组件解除对支撑组件三个对应方向的限位，再启动控制组件通过剩余一个限位组件可带动支撑组件向未被解除限位的方向偏转。

作为本发明的进一步方案：所述支撑组件包括用于放置待测件的平台和固定安装在工作台上的四个底座，四个底座位于平台的四个方向且与四个限位组件位置对应；平台的四个侧面均固定安装有支杆，支杆的内部固定安装有与底座活动贴合的圆杆。

作为本发明的进一步方案：每个侧面的所述支杆数量均为两个，底座位于两个支杆之间均与两个支杆均活动贴合，底座的顶面开设有以供圆杆安置的凹陷。

作为本发明的进一步方案：所述限位组件包括固定安装在工作台上的壳体，壳体的内部滑动安装有与底座位置对应的滑板，滑板的底部延伸至工作台的内部并与控制组件位置对应，滑板的表面与壳体之间固定安装有第一弹簧。

作为本发明的进一步方案：所述壳体和工作台之间共同开设有以供滑板滑动的滑槽，滑板基于滑槽可沿着工作台的径向方向往复滑动；当滑块滑动至与底座的顶面贴合后，可配合底座形成对圆杆的限位使得圆杆只能自转动。

作为本发明的进一步方案：所述控制组件包括与工作台固定连接的电机，电机的输出轴固定安装有悬臂，悬臂远离电机的端部固定安装有可与其中三个滑板活动贴合的弧形杆，悬臂的表面设置有用于带动平台转动的气缸。